半导体光电器件检测需要根据标准内指定项目、方法进行，GB国标、行标、外标、企标、地方标准。半导体光电器件检测项目和标准是什么?第三方检测机构提供半导体光电器件检测一站式服务，工程师一对一服务，确认需求、推荐方案、寄样送检、出具报告、售后服务，3-15工作日出具报告，欢迎咨询半导体光电器件检测服务

检测周期：常规3-15个工作日，可加急（特殊样品除外）

报告样式：电子版、纸质，中、英文均可。

报告资质：CMA、CNAS

半导体光电器件检测项目：

检测项目：

低温存储试验、冷热冲击试验、微米级长度测量、温度偏置寿命试验、温度偏置寿命试验（脉冲）、温度循环偏置试验、温度循环试验、温湿度偏压寿命试验、温湿度存储试验、高温存储试验

半导体光电器件检测标准：

检测标准：

1、JESD22-A103E (October 2015) 高温存储试验

2、JESD22-A105C; Method A、 B (Jan 2004) 温度循环偏置试验

3、IEC 60068-2-1 (Edition 6.0 2007-03) 环境试验 第2部分：试验方法 试验A：低温

4、JESD22-A106B.01 (Nov 2016) 冷热冲击试验

5、JESD22-A104E(Oct 2014) 温度循环试验

6、JESD22-A119A; Condition A (Oct 2015) 低温存储试验 JESD22-A119A; Condition A (Oct 2015)

7、JESD22-A101D (July 2015) 温湿度偏压寿命试验

8、JESD22-A108F (Jul 2017) 温度、偏置和寿命试验

9、IEC 60068-2-67 (Edition 1.0 1995-12) 环境试验 第2-67部分:试验方法 试验Cy:稳态湿热加速试验(主要用于部件)

10、GB/T 16594-2008 微米级长度的扫描电镜测量方法通则

11、JESD 22-A101D 温湿度存储试验 JESD22-A101D (July 2015)

12、IEC60069-2-2 第5版 2007-07 环境试验方法 2-2部分 试验B：高温

13、IEC 60068-2-14; Test N (Edition 6.0 2009-01) 冷热冲击试验

样品检测流程：

1、致电咨询百检客服，确认样品及需求。

2、客服安排工程师对接，根据需求制定检测方案。

3、确认方案、报价后签订合同，安排寄样检测。

4、实验室根据需求，对样品开展检测工作。

5、检测结束，出具样品检测报告。

6、如需加急请提前与工程师或客服进行沟通。

百检检测报告用途

销售：出具检测报告，提成产品竞争力。

研发：缩短研发周期，降低研发成本。

质量：判定原料质量，减少生产风险。

诊断：找出问题根源，改善产品质量。

科研：定制完整方案，提供原始数据。

竞标：报告认可度高，提高竞标成功率。

检测项目及检测标准相关信息就介绍到这里。第三方检测机构期待与您的合作，详情请联系百检客服。

检测流程步骤

温馨提示：以上内容仅供参考使用，更多检测需求请咨询客服。