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半导体材料碳化硅单晶抛光片微管密度检测

检测报告图片样例

半导体材料检测项目标准及流程是什么?实验室可依据GB/T 31351-2014碳化硅单晶抛光片微管密度无损检测方法检测标准规范中的试验方法,对半导体材料碳化硅单晶抛光片微管密度检测等项目进行准确测试。

检测对象

半导体材料

检测项目

碳化硅单晶抛光片微管密度检测

检测标准

GB/T 31351-2014碳化硅单晶抛光片微管密度无损检测方法检测

相关标准

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检测流程步骤

检测流程步骤

温馨提示:以上内容仅供参考使用,更多检测需求请咨询客服。

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