检测样品
金刚石膜、石墨烯膜、碳纳米管膜、活性炭膜、等离子增强化学气相沉积、生长的非晶碳膜、蒸发碳膜等等。检测项目
光学性能：包括可见光透过率、红外线透过率、紫外线透过率和表面反射率等。
耐候性能：包括耐暴晒、抗老化、耐高温等。
机械性能：包括耐刮擦、耐磨损、拉伸强度和撕裂强度等。
化学稳定性：包括对酸、碱、盐水等的耐受性。
粘附力：包括与基材的粘附力和膜层之间的粘附力。
导电性：包括电阻率和导电系数等。
防紫外线性能：包括对紫外线的吸收和反射等。
检测周期
一般7-10个工作日出具报告，可加急。参考标准规范
KS C 6413-1974(1997) 孤立状碳膜固定电阻器
KS C 6417-1985(2000) 碳膜电阻器
KS C 5117-2003 绝缘碳膜电阻器
KS C 6409-2002 通用碳膜可调电位器
JUS N.R3.101-1981 碳膜电阻器.固定式、低功率、标准稳定性，气候特性55/155/56
SJ/T 10617-2017 电子元器件详细规范 低功率非线绕固定电阻器 RT13型碳膜固定电阻器 评定水平E
GB/T 12635-1990 碳膜电阻器用陶瓷基体
JIS C5212-1995 电子设备用圆柱体碳膜片层固定电阻器(形状27,特性D及G,等级C)
JIS C6407-1992 用于电气设备的绝缘固定碳膜电阻器
JB/T 5632-1991 碳膜电阻渗碳炉 能耗分等
YS/T 613-2006 碳膜电位器用电阻浆料
KS C 5117-2003(2018) 孤立状碳膜固定电阻器
GB 12635-1990 碳膜电阻器用陶瓷基体
SJ/T 11171-2016 单、双面碳膜印制板分规范
KS C 6370-1995(2000) 电子设备碳膜固定电阻器使用(特征D和G)
检测流程步骤
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