报告类型： 【TOF-SIMS分析检测】电子报告、纸质报告(中文报告、英文报告、中英文报告)
报告资质： CMA；CNAS
检测周期： 3-10个工作日（特殊样品除外）
服务地区： 全国，实验室就近分配
检测用途： 电商平台入驻；商超卖场入驻；产品质量改进；产品认证；出口通关检验等
样品要求： 样品支持快递取送/上门采样，数量及规格等视检测项而定
概览
检测报告图片
ASTM E1-2011:报告次级离子质谱法(SIMS)中溅射深度截面数据的标准实施规程
ASTM E1438-2011:用次级离子质谱法(SIMS)测量深度掺杂分布界面宽度标准指南
TOF-SIMS分析检测用途
掺杂剂与杂质的深度剖析
薄膜的成份及杂质测定 (金属、电介质、锗化硅 、III-V族、II-V族)
超薄薄膜、浅植入的超高深度辨析率剖析
硅材料整体分析，包含B, C, O,以及N
工艺工具(离子植入)的高精度分析
检测报告有效期
一般TOF-SIMS分析检测报告上会标注实验室收到样品的时间、出具报告的时间，不会标注有效期。
检测费用价格
需要根据检测项目、样品数量及检测标准而定，请联系我们确定后报价。
检测流程步骤
检测机构平台
百检汇集众多CNAS、CMA、CAL等资质的检测机构遍布全国，检测领域全行业覆盖，为您提供TOF-SIMS分析检测服务。具体请咨询在线客服。
