报告类型： 【集成电路卡一般特性检测】电子报告、纸质报告(中文报告、英文报告、中英文报告)
报告资质： CMA；CNAS
检测周期： 3-10个工作日（特殊样品除外）
服务地区： 全国，实验室就近分配
检测用途： 电商平台入驻；商超卖场入驻；产品质量改进；产品认证；出口通关检验等
样品要求： 样品支持快递取送/上门采样，数量及规格等视检测项而定
检测报告图片
集成电路卡第三方检测报告如何办理？检测项目及标准方法是什么？实验室可依据IEC 15693-1:2010识别卡 无触点的集成电路卡 邻近式卡 第1部分：物理特性检测标准规范中的试验方法，对集成电路卡一般特性检测等项目进行准确测试。
检测对象
集成电路卡
检测项目
一般特性检测
检测标准
IEC 15693-1:2010识别卡 无触点的集成电路卡 邻近式卡 第1部分：物理特性检测
相关标准
ISO/IEC15693-1:2000/4.3.8识别卡 无触点集成电路卡 邻近式卡 第1部分：物理特性 ISO/IEC15693-1:2000/4.3.8
ISO/IEC15693-1:2000/4.3.7识别卡 无触点集成电路卡 邻近式卡 第1部分：物理特性 ISO/IEC15693-1:2000/4.3.7
ISO/IEC15693-1:2010/4.3识别卡 无触点集成电路卡 邻近式卡 第1部分：物理特性 ISO/IEC15693-1:2010/4.3
ISO/IEC15693-1:2000/4.3.9识别卡 无触点集成电路卡 邻近式卡 第1部分：物理特性 ISO/IEC15693-1:2000/4.3.9
ISO/IEC15693-1:2000/4.3.4识别卡 无触点集成电路卡 邻近式卡 第1部分：物理特性 ISO/IEC15693-1:2000/4.3.4
ISO/IEC15693-1:2000/4.3.3识别卡 无触点集成电路卡 邻近式卡 第1部分：物理特性 ISO/IEC15693-1:2000/4.3.3
ISO/IEC15693-1:2000/4.3.6识别卡 无触点集成电路卡 邻近式卡 第1部分：物理特性 ISO/IEC15693-1:2000/4.3.6
ISO/IEC15693-1:2000/4.3.5识别卡 无触点集成电路卡 邻近式卡 第1部分：物理特性 ISO/IEC15693-1:2000/4.3.5
ISO/IEC15693-1:2000/4.2识别卡 无触点集成电路卡 邻近式卡 第1部分：物理特性 ISO/IEC15693-1:2000/4.2
ISO/IEC15693-1:2000/4.3.1识别卡 无触点集成电路卡 邻近式卡 第1部分：物理特性 ISO/IEC15693-1:2000/4.3.1
我们也可根据您的需求设计检测方案，如果您对集成电路卡检测有严格要求，不妨考虑选择我们。
检测报告有效期
一般集成电路卡一般特性检测报告上会标注实验室收到样品的时间、出具报告的时间，不会标注有效期。
检测费用价格
需要根据检测项目、样品数量及检测标准而定，请联系我们确定后报价。
检测流程步骤
检测机构平台
百检汇集众多CNAS、CMA、CAL等资质的检测机构遍布全国，检测领域全行业覆盖，为您提供集成电路卡一般特性检测服务。具体请咨询在线客服。
