SJ 20025-1992.Generic specification for gas snesors of metal-oxide semiconductor.
1范围
1.1主题内容
SJ 20025规定了*用金属氧化物半导体气敏元件(以下简称气敏元件或产品)的质量保证、检验规则、包装、储运的一般要求。具体要求和特性在相应的*用详细规范(以下简称详细规范)中规定。
1.2适用范围
本规范适用于*事装备用金属氧化物半导体气敏元件,其它气敏元件和民用气敏元件亦可参照采用。
1.3分类
气敏元件应按下列规定分类:
A烧结型
B薄膜型
C厚膜型
D混合型
1.4产品的质量标志
凡经鉴定机构批准并符合本规范和相应详细规范要求的产品,用字母G作为质量标志。
2引用文件
GB 191--73包装储运图示标志
GB 2828- 87逐批检查计数抽样程序及抽样表(适用于连缕批的检查)
GB 2829--87周期检查计数抽样程序及抽样表(适用于生产过程稳定性的检查)
GB 4475- 84敏感元器件名词术语
GB 7408- -87星期编号
CJB 360--87电子及电气元器件试验方法
SJ 1155--82敏感元器件型号命名方法
SI 20026-92金属氧化物半导体气敏元件测试方法
SJ 20079- -92金 属氧化物半导体气敏元件试验方法
3要求
3.1总要求
产品的要求应符合本规范和有关详细规范,当本规范中采用“规定”或“按规定”一词而未引证出处时,即指引证详细规范。
按本规范和详细规范生产产品时,必须先取得鉴定机构颁发的产品合格证书。只有经过检验并符合相应的详细规范和本规范所规定的全部要求的产品,才能标上G标志。
3.2 优先顺序
若本规范要求与详细规范或其它有关文件之间发生矛盾时,文件的权力应按下列优先顺序排列:
a.详细规范;
b.本规范;
c.第2章中有关文件。

检测流程步骤

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