标准简介：本部分适用于光电子器件的测试方法，用于光纤系统或子系统的除外。

标准号：GB/T 15651.3-2003

标准名称：半导体分立器件和集成电路 第5-3部分：光电子器件 测试方法

英文名称：Discrete semiconductor devices and integrated circuits—Part 5-3:Optoelectronic devices—Measuring methods

标准类型：国家标准

标准性质：推荐性

标准状态：现行

发布日期：2003-01-01

实施日期：2004-08-01

中国标准分类号（CCS）：电子元器件与信息技术>>光电子器件>>L50光电子器件组合

国际标准分类号（ICS）：电子学>>31.260光电子学、激光设备

起草单位：华禹光谷股份有限公司半导体厂

归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会

发布单位：国家质量监督检验检疫.

检测流程步骤

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