标准简介：本标准规定了金属氧化物半导体气敏件性能参数测试方法的基本原理，没有规定这些方法在实际使用时的技术细节，测试时可按相应的详细规范的规定进行。本标准适用于金属氧化物半导体气敏件性能参数的测试，其他气敏件亦可参照使用。

标准号：GB/T 15653-1995

标准名称：金属氧化物半导体气敏元件测试方法

英文名称：Measuring methods for gas sensors of metal-oxide semiconductor

标准类型：国家标准

标准性质：推荐性

标准状态：现行

发布日期：1995-07-24

实施日期：1996-04-01

中国标准分类号（CCS）：电子元器件与信息技术>>电子元件>>L15敏感元器件及传感器

国际标准分类号（ICS）：电子学>>31.020电子元件综合

起草单位：电子工业部标准化研究所

归口单位：信息产业部（电子）

发布单位：国家技术监督局

检测流程步骤

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