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探针法检测检验标准汇总

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探针法检测报告如何办理?检测项目及标准有哪些?百检第三方检测机构,严格按照探针法检测相关标准进行测试和评估。做检测,找百检。我们只做真实检测。

涉及探针 法的标准有88条。

国际标准分类中,探针 法涉及到金属材料试验、水质、绝缘流体、半导体材料、有色金属、复合增强材料、电工器件、兽医学、长度和角度测量、无损检测、陶瓷、半导体分立器件、试验条件和规程综合、土质、土壤学、食品试验和分析的一般方法、电磁兼容性(EMC)、道路车辆装置、农业和林业、消防、集成电路、微电子学、电子显示器件。

在中国标准分类中,探针 法涉及到金属物理性能试验方法、水环境有毒害物质分析方法、半金属与半导体材料综合、、电工合金零件、氧化物、单质、陶瓷、玻璃综合、特种陶瓷、电工材料和通用零件综合、元素半导体材料、电阻器、质谱仪、液谱仪、能谱仪及其联用装置、工程地质、水文地质勘察与岩土工程、金属无损检验方法。

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会,关于探针 法的标准

GB/T 1551-2021硅单晶电阻率的测定 直排四探针法和直流两探针法

GB/T 39978-2021纳米技术 碳纳米管粉体电阻率 四探针法

法国标准化协会,关于探针 法的标准

NF T90-106*NF EN ISO 5814:2012水质溶解氧的测定电工探针法

NF ISO 17289:2014水质 溶解氧投加量 光学探针法

NF T90-106:1993水质.溶解氧的测定.电化学探针法

NF EN ISO 5814:2012水质溶解氧的测定电化学探针法

XP P94-123:1999土壤:勘察和测试 - 钻孔测井 - 中子探针法

NF ISO 10573:1996土壤质量非饱和带含水量的测定深度中子探针法

NF EN 61967-6:2003集成电路 - 电磁辐射测量,150 kHz 至 1 GHz - 第 6 部分:传导发射测量 - 磁探针法

NF EN 61967-6/A1:2008集成电路 - 电磁辐射测量,150 kHz 至 1 GHz - 第 6 部分:传导发射测量 - 磁探针法

AT-ON,关于探针 法的标准

ONORM M 6266-1984水质.溶解氧的测定.电化学探针法

国家质检总局,关于探针 法的标准

GB/T 6617-1995硅片电阻率测定扩展电阻探针法

GB/T 6617-2009硅片电阻率测定 扩展电阻探针法

GB/T 1552-1995硅、锗单晶电阻率测定直排四探针法

GB/T 1551-1995硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法

GB/T 14141-2009硅外延层、扩散层和离子注入层薄层电阻的测定.直排四探针法

国际标准化组织,关于探针 法的标准

ISO 5814:1984水质.溶解氧的测定.电化学探针法

丹麦标准化协会,关于探针 法的标准

DS/EN ISO 5814:2013水质溶解氧的测定电化学探针法

DS/EN 61967-6:2003集成电路 电磁发射的测量,150 kHz 1 GHz 第6部分:传导发射的测量 磁探针法

DS/EN 61967-6/A1:2008集成电路 电磁发射的测量,150 kHz 至 1 GHz 第6部分:传导发射的测量 磁探针法

VN-TCVN,关于探针 法的标准

TCVN 7325-2016水质溶解氧的测定电化学探针法

韩国科技标准局,关于探针 法的标准

KS I ISO 5814:2017水质溶解氧的测定电化学探针法

KS D 0260-1999四点探针法测试单晶硅片电阻率的方法

KS L 1619-2013电传导陶器薄膜电阻率测定方法.4点探针法

KS L 1619-2003电传导陶器薄膜电阻率测定方法.4点探针法

KS C 0256-2002硅单结晶及硅片的4探针法的抵抗率测定方法

KS I ISO 10573-2005(2020)土壤质量非饱和带含水量的测定(中子深度探针法)

KS I ISO 10359-1-2006(2011)水质氟化物的测定第1部分:饮用水和轻度污染水的电化学探针法

KS C IEC TS 62607-6-1:2022纳米制造.关键控制特性.第6-1部分:石墨烯基材料.体积电阻率:四探针法

KR-KS,关于探针 法的标准

KS I ISO 5814-2017水质溶解氧的测定电化学探针法

KS I ISO 5814-2023水质溶解氧的测定电化学探针法

KS C IEC TS 62607-6-1-2022纳米制造.关键控制特性.第6-1部分:石墨烯基材料.体积电阻率:四探针法

德国标准化学会,关于探针 法的标准

DIN EN ISO 5814:2013-02水质溶解氧的测定电化学探针法

DIN EN 61967-6 Berichtigung 1:2011-02集成电路 电磁发射测量 150kHz 至 1 GHz 第6部分:传导发射测量 磁探针法

DIN EN 61967-6:2008-10集成电路 - 电磁辐射测量,150 kHz 至 1 GHz - 第 6 部分:传导发射测量 - 磁探针法 (IEC 61967-6:2002 + A1:2008)

行业标准-有色金属,关于探针 法的标准

YS/T 602-2007区熔锗锭电阻率测试方法 两探针法

YS/T 602-2017区熔锗锭电阻率测试方法 两探针法

RU-GOST R,关于探针 法的标准

GOST 24392-1980单晶硅和锗.四探针法测定电阻系数

中国团体标准,关于探针 法的标准

T/CSTM 00252-2020碳纤维体积电阻率试验方法四探针法

T/CASAS 019-2021微纳米金属烧结体电阻率测试方法 四探针法

T/ZGIA 001-2019石墨烯测试方法 粉体电导率的测定 四探针法

T/GDBK 007-2023焙烤食品中丙烯醛的快速测定 酶标仪法(荧光探针法)

日本工业标准调查会,关于探针 法的标准

JIS H 0612:1975硅单晶片电阻率的测定方法.四探针法

JIS H 0602:1995用四点探针法对硅晶体和硅片电阻率的测试方法

行业标准-机械,关于探针 法的标准

JB/T 12074-2014复合金属材料成分的测定电子探针法

吉林省地方标准,关于探针 法的标准

DB22/T 3089-2019羊传染性脓疱病毒检测 荧光PCR探针法

河北省标准,关于探针 法的标准

DB13/T 5255-2020石墨烯导电油墨方阻的测定 四探针法

DB13/T 5026.3-2019石墨烯导电浆料物理性质的测定方法 第3部分:浆料极片电阻率的测定 四探针法

江苏省标准,关于探针 法的标准

DB32/T 4027-2021石墨烯粉体电导率测定 动态四探针法

DB32/T 4378-2022衬底表面纳米、亚微米尺度薄膜 方块电阻的无损测试 四探针法

立陶宛标准局,关于探针 法的标准

LST EN ISO 5814:2012水质-溶解氧的测定-电化学探针法(ISO 5814:2012)

LST ISO 10359-1:1998水质 氟化物的测定 第1部分:饮用水和轻度污染水的电化学探针法

LST EN 61967-6-2003/A1-2008集成电路 电磁辐射测量,150 kHz 至 1 GHz 第6部分:传导辐射测量 磁探针法(IEC 61967-6:2002/A1:2008)

AENOR,关于探针 法的标准

UNE-EN ISO 5814:2013水质-溶解氧的测定-电化学探针法(ISO 5814:2012)

UNE 77044-1:2002水质 氟化物的测定 第1部分:饮用水和轻度污染水的电化学探针法

地方标准,关于探针 法的标准

CNS 12846-1991氦质谱仪示踪气探针探漏法

海关总署,关于探针 法的标准

SN/T 5315-2021光催化自洁陶瓷性能测试方法 荧光探针法

国家*用标准-总装备部,关于探针 法的标准

GJB 5309.22-2004火工品试验方法 第22部分:爆炸同步性测定 探针法

美国材料与试验协会,关于探针 法的标准

ASTM D5334-00(2004)用热针探针法测定土壤和岩石导热性的标准试验方法

ASTM D5334-22用热针探针法测定土壤和岩石热导率的标准试验方法

ASTM D5334-22a用热针探针法测定土壤和岩石导热性的标准试验方法

ASTM D5334-22ae1用热针探针法测定土壤和岩石热导率的标准试验方法

ASTM F390-98(2003)用共线四探针法对金属薄膜的薄膜耐力的试验方法

ASTM F390-11用共线四探针法测定金属薄膜的薄膜电阻的标准试验方法

ASTM E499/E499M-11在检测器探针法中用质谱仪检漏器作泄漏检验的标准操作规程

ASTM D5220-02用中子深探针法对应有位置的土壤和岩石的含水量的标准试验方法

ASTM D5220-92(1997)用中子深探针法对应有位置的土壤和岩石的含水量的标准试验方法

ASTM D5220-08用中子深探针法对地表土壤和岩石中单位体积含水量的标准试验方法

ASTM E498-95(2006)在示踪探针法中用质谱仪检漏器或残余气体分析器作泄漏检验的测试方法

ASTM F1711-96(2016)采用四点探针法测量平板显示器制造用薄膜导体的薄层电阻的标准实施规程

ASTM E498/E498M-11在示踪探针法中用质谱仪检漏器或残余气体分析器作泄漏检验的标准操作规程

英国标准学会,关于探针 法的标准

PD IEC TS 62607-6-1:2020纳米制造 关键控制特性 石墨烯基材料 体积电阻率:四探针法

BS 6068-2.41:1993水质 物理、化学和生化方法 饮用水和轻污染水氟化物的测定电化学探针法

美国机动车工程师协会,关于探针 法的标准

SAE J1752-2-2003集成电路的辐射发射测量表面扫描法(环路探针法)10 MHz 至 3 GHz

SAE J1752/2-1995集成电路的辐射发射测量 表面扫描法(环路探针法)10 Mhz 至 3 Ghz

SAE J1752/2-2011集成电路辐射发射的测量 表面扫描法(环路探针法)10 MHz 至 3 GHz

SAE J1752/2-2016集成电路辐射发射的测量 表面扫描法(环路探针法)10 MHz 至 3 GHz

SAE J1752/2-2003集成电路辐射发射的测量 表面扫描法(环路探针法)10 MHz 至 3 GHz

SAE - SAE International,关于探针 法的标准

SAE J1752-2-2016集成电路的辐射发射测量 表面扫描法(环路探针法)10 MHz 至 3 GHz

ES-UNE,关于探针 法的标准

UNE-EN 61967-6:2002集成电路 电磁辐射测量 150kHz 至 1 GHz 第6部分:传导发射测量 磁探针法

UNE-EN 61967-6:2002/A1:2008集成电路 电磁辐射测量 150kHz 至 1 GHz 第6部分:传导发射测量 磁探针法

云南省地方标准,关于探针 法的标准

DB53/T 443-2012火灾技术鉴定方法 电子探针分析法

国际电工委员会,关于探针 法的标准

IEC 61967-6:2002/AMD1:2008集成电路.150kHz至1GHz电磁发射的测量.第6部分:传导发射的测量.磁探针法

IEC 61967-6:2008集成电路.150kHz至1GHz电磁发射的测量.第6部分:传导发射的测量.磁探针法

IEC 61967-6:2002+AMD1:2008 CSV集成电路.150kHz至1GHz电磁发射的测量.第6部分:传导发射的测量.磁探针法

IEC TS 62607-6-1:2020纳米制造关键控制特性第6-1部分:石墨烯基材料体积电阻率:四探针法

ZA-SANS,关于探针 法的标准

SANS 10359-1:2002水质.氟化物含量测定.第1部分:饮用水和轻度污染水用电化学探针法

湖北省地方标准,关于探针 法的标准

DB42/T 1864.2-2022家禽疫病诊断技术规程 第2部分:禽大肠杆菌致病群双重探针法检测

检测流程步骤

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