自动比较器检测报告如何办理？检测项目及标准有哪些？百检第三方检测机构，严格按照自动比较器检测相关标准进行测试和评估。做检测，找百检。我们只做真实检测。
涉及自动比较器的标准有114条。
国际标准分类中，自动比较器涉及到集成电路、微电子学、输电网和配电网、表面处理和镀涂、电击防护、特殊工作条件下用电气设备、半导体分立器件、阀门、电学、磁学、电和磁的测量、建筑材料、电子元器件综合。
在中国标准分类中，自动比较器涉及到半导体集成电路、微电路综合、电力综合、半导体分立器件综合、混合集成电路、高电压设备成套装置、机械量仪表、自动秤重装置与其他检测仪表、电测模拟指示仪表、电力系统、卫生、安全、劳动保护、混凝土、集料、灰浆、砂浆、电工绝缘材料及其制品、标准化、质量管理、技术管理。
国家质检总局，关于自动比较器的标准
GB/T 6798-1996半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理
国际电工委员会，关于自动比较器的标准
IEC 62271-215:2021高压开关设备和控制设备第215部分:VDIS用相位比较器
IEC 61481-1 CORR 1:2015带电作业. 相位比较器. 第1部分: 用于超过1 kV交流电压的电容式;勘误1
IEC 61481-1:2014带电作业. 相位比较器. 第1部分: 用于超过1 kV交流电压的电容式
IEC 61481-2:2014带电作业. 相位比较器. 第2部分: 用于1 kV至36 kV交流电压的电阻式
IEC 61481-2001+AMD1-2002+AMD2-2004 CSV带电作业.1kV至36kV交流电压用便携式相位比较器
IEC 61481:2001+AMD1:2002+AMD2:2004 CSV带电作业.1kV至36kV交流电压用便携式相位比较器
IEC 61481 Edition 1.2:2004带电作业.用于交流电压在1 kV 到 36 kV的可携式相位比较器
IEC 61481:2001/AMD2:2004修改件2.带电作业.交流1 kV至36 kV电压用便携式相位比较器
IEC 61481 AMD 2:2004带电作业.1kV至36kV交流电压用轻便相位比较器.修改件2
IEC 61481 Edition 1.1 CORR 1:2002带电作业.1kV-36kV交流电压上使用的便携式相位比较器
IEC 61481:2001+AMD1:2002 CSV带电作业.1kV至36kV交流电压用便携式相位比较器
IEC 61481-2001+AMD1-2002 CSV带电作业.1kV至36kV交流电压用便携式相位比较器
IEC 61481:2001/AMD1:2002修改件1.带电作业.交流1 kV至36 kV电压用便携式相位比较器
，关于自动比较器的标准
NBN 698 F-1966刻度盘为0,01 mm的机械比较器特性；特点；试用方法
工业和信息化部，关于自动比较器的标准
SJ/T 10805-2018半导体集成电路 电压比较器测试方法
德国标准化学会，关于自动比较器的标准
DIN EN 61481-1-2015带电作业. 相位比较器. 第1部分: 用于超过1 kV交流电压的电容式. (IEC 61481-1-2014); 德文版本EN 61481-1-2014
DIN EN 61481-2-2015带电作业. 相位比较器. 第2部分: 用于1 kV至36 kV交流电压的电阻式. (IEC 61481-2-2014); 德文版本EN 61481-2-2014
DIN EN 61481/A1-2003带电作业.1kV至36kV交流电压用便携式相位比较器.修改件A1
DIN 45940-1302-1987电子元器件质量评定协调体系.空白详细规范:集成式电压比较器(CECC90302)
美国国防后勤局，关于自动比较器的标准
DLA SMD-5962-90916 REV B-2008单片硅8位数值比较器改进的CMOS数字微电路
DLA SMD-5962-95551 REV C-2008线性单硅片微电路,带二元微功率电压比较器
DLA SMD-5962-00524 REV E-2008单硅线性发散形微电路,带精密电压比较器/缓冲器,经硬化处理
DLA DSCC-VID-V62/07646-2008单片硅双路差动比较器线性微电路
DLA SMD-5962-91505 REV C-2008单片硅带锁定电路精密比较器高速线性微电路
DLA DSCC-VID-V62/07647-2008单片硅四路差动比较器数字线性微电路
DLA SMD-5962-88711 REV A-2007硅单片开放电极输出8位身份比较器肖特基TTL促进数字微电路
DLA SMD-5962-87739 REV H-2007硅单片辐射硬化电压比较器四方线性微电路
DLA SMD-5962-98613 REV G-2007微型电路,线型,辐射加固,四路电压比较器,单块硅
DLA SMD-5962-90969 REV B-2007硅单块 第功率电压比较器,四列互补金属氧化物半导体,直线式微型电路
DLA SMD-5962-97591 REV A-2007微型电路,数字型,双极,改进型肖特基晶体管晶体管逻辑电路,8 位等值比较器,单块硅
DLA SMD-5962-01510 REV D-2007单片硅辐射硬化线性微电路四电压比较器
DLA SMD-5962-86878 REV A-2006硅单块 电压比较器高速双直线式微型电路
DLA SMD-5962-97547 REV A-2006低功率4-BIT数量比较器硅单片电路数字双极微电路
DLA SMD-5962-95549 REV B-2006双重的差动比较器硅单片电路线型微电路
DLA SMD-5962-93003 REV C-2006硅单片,装有双通道比较器及电压基准的双重运算放大器,线性微型电路
DLA SMD-5962-87545 REV B-2006硅单块 高速差分电压电压比较器,直线型微型电路
DLA SMD-5962-86877 REV E-2006硅单块 精密电压比较器或缓冲器 直线式微型电路
DLA SMD-5962-89793 REV C-2006硅单片,TTL可兼容输入,8位相等比较器,改进型肖特基TTL数字微型电路
DLA SMD-5962-06253 REV A-2006双信道电压比较器混合微型电路
DLA SMD-5962-78019 REV E-2006硅单片高速电压比较器,双极线性微型电路
DLA SMD-5962-84152 REV C-2005硅单片量值比较器,TTL肖脱基高级小功率数字微型电路
DLA SMD-5962-87572 REV D-2005硅单块 差异电压比较器,直线型微型电路
DLA SMD-5962-86014 REV H-2005硅单块 电压比较器高速双直线型微型电路
DLA SMD-5962-89504 REV B-2005硅单片双比较器线性微电路
DLA DSCC-VID-V62-04745-2005微型电路,线形,低功率,低偏移,四倍电压比较器,单块硅
DLA DSCC-VID-V62-04743-2005微型电路,线形,低功率,低偏移,四倍电压比较器,单块硅
DLA SMD-5962-96798 REV D-2005双重电压比较器硅单片电路线型微电路
DLA SMD-5962-77037 REV G-2005硅单片量值比较器,氧化物半导体数字微型电路
DLA SMD-5962-84151 REV A-2005硅单片量值比较器,TTL肖脱基高级小功率数字微型电路
DLA SMD-5962-00524 REV D-2005单片硅辐射硬化线性微电路精密电压比较器/缓冲器
DLA SMD-5962-86818 REV D-2005硅单块 八比特量值比较器,高速互补金属氧化物半导体,数字微型电路
DLA SMD-5962-89757 REV B-2004硅单片,8位量值比较器,改进型肖特基TTL双极数字微型电路
DLA SMD-5962-86860 REV B-2004硅单块 精密方形,电压比较器,直线式微型电路
DLA SMD-5962-90985 REV B-2004硅单块 8比特允许的量值比较器,高速互补金属氧化物半导体,数字微型电路
DLA SMD-5962-77008 REV F-2003硅单片四重电压比较器线性微型电路
DLA SMD-5962-90627 REV C-2003硅单片,电压比较器,线性微型电路
DLA SMD-5962-87659 REV C-2003硅单块 双差异比较器,直线型微型电路
DLA SMD-5962-86857 REV A-2003硅单块 8比特量值比较器,高速互补金属氧化物半导体,数字微型电路
DLA SMD-5962-84153 REV B-2003硅单片量值比较器,TTL肖脱基高级小功率数字微型电路
DLA SMD-5962-86013 REV D-2002硅单块 4比特量值比较器,高速互补金属氧化物半导体数字微型电路
DLA SMD-5962-88578 REV B-2001硅单片8位身份比较器低功耗肖特基TTL促进双极化数字微电路
DLA SMD-5962-95551 REV B-2001双重的功率电压比较器硅单片电路线型微电路
DLA SMD-5962-91619 REV A-2000硅单块 窗口电压比较器,直线式微型电路
DLA SMD-5962-96709 REV C-2000抗辐射互补金属氧化物半导体,8-BIT数量比较器硅单片电路数字微电路
DLA SMD-5962-96674 REV C-2000抗辐射互补金属氧化物半导体,类似体4BIT数量比较器,硅单片电路数字微电路
DLA SMD-5962-95768 REV B-2000高速抗辐射互补金属氧化物半导体4-BIT数量比较器晶体管兼容输入硅单片电路线型微电路
DLA SMD-5962-90916 REV A-1998硅单块 8比特量值比较器,高级互补金属氧化物半导体,数字微型电路
DLA SMD-5962-92234-1993硅单片,TTL兼容输入及受输出限制的电压摆幅,装有单片使能的8位恒等比较器,高速氧化物半导体数字微型电路
DLA SMD-5962-93002-1993硅单片,双通道比较器及基准,线性微型电路
DLA SMD-5962-93224-1993硅单片,装有断路及比较器的稳压器,线性微型电路
DLA SMD-5962-92128-1992硅单块 带主从缓冲器的电压比较器,高速直线式微型电路
DLA SMD-5962-91755-1992硅单块 带透明止动栓的高速电压比较器,高速直线式微型电路
DLA SMD-5962-88712-1988硅单片8位身份比较器肖特基促进数字微电路
DLA SMD-5962-88710-1988硅单片8位身份比较器肖特基TTL促进双极数字微电路
DLA SMD-5962-86069-1986硅单块 量值比较器,高级肖脱基晶体管-晶体管逻辑电路,数字微型电路
法国标准化协会，关于自动比较器的标准
NF C18-481/A1-2003带电作业.交流电压为 1 kV 至 36 kV 的便携式相位比较器
NF C18-481-2001带电作业.交流电压为 1 kV 至 36 kV 的便携式相位比较器
NF C86-902-1989电子设备元件集成电压比较器法国标准NF C 86-902(CECC 90 302)范围内的具体规范收集
英国标准学会，关于自动比较器的标准
BS EN 61481-2001带电作业.1kV至36kV交流电压用便携式相位比较器
BS CECC 90302-1986电子元器件质量评估协调体系规范.空白详细规范:集成电压比较器
日本工业标准调查会，关于自动比较器的标准
JIS A1129-1-2001灰浆和混凝土长度变化的试验方法.第1部分:比较器检测法
行业标准-电子，关于自动比较器的标准
SJ/T 10805-2000半导体集成电路.电压比较器测试方法的基本原理
SJ 50597/23-1994半导体集成电路.JJ710型电压比较器详细规范
SJ 50597/29-1994半导体集成电路.JC4585型CMOS4位数值比较器详细规范
SJ 50597.1-1994半导体集成电路JT54LS85型LS-TTL四位数值比较器详细规范
SJ/T 10076-1991电子元器件详细规范.半导体集成电路CJ 710型电压比较器
SJ/T 10805-1996半导体集成接口电路电压比较器测试方法的基本原理
(美国)*事条例和规范，关于自动比较器的标准
ARMY MIL-C-48483 C REINST NOTICE 4-2000电路板组装-1型比较器
ARMY MIL-C-48484 C NOTICE 3-1997电路板组装-2型比较器
ARMY MIL-C-48484 C REINST NOTICE 2-1996电路板组装-2型比较器
ARMY MIL-C-48484 C-1995电路板组装-2型比较器.型号2
ARMY MIL-C-48483 C-1995电路板组装-1型比较器
美国材料与试验协会，关于自动比较器的标准
ASTM C729-75(1995)e1水槽比较器玻璃密度的标准测试方法
检测流程步骤
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