表面电子能谱检测报告如何办理？检测项目及标准有哪些？百检第三方检测机构，严格按照表面电子能谱检测相关标准进行测试和评估。做检测，找百检。我们只做真实检测。
涉及表面电子能谱的标准有55条。
国际标准分类中，表面电子能谱涉及到分析化学。
在中国标准分类中，表面电子能谱涉及到基础标准与通用方法、化学、化学助剂基础标准与通用方法。
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会，关于表面电子能谱的标准
GB/T 41073-2021表面化学分析 电子能谱 X射线光电子能谱峰拟合报告的基本要求
GB/T 41064-2021表面化学分析 深度剖析 用单层和多层薄膜测定X射线光电子能谱、俄歇电子能谱和二次离子质谱中深度剖析溅射速率的方法
GB/T 41072-2021表面化学分析 电子能谱 紫外光电子能谱分析指南
GB/T 36504-2018印刷线路板表面污染物分析 俄歇电子能谱
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会，关于表面电子能谱的标准
GB/T 32998-2016表面化学分析俄歇电子能谱荷电控制与校正方法报告的规范要求
GB/T 32565-2016表面化学分析俄歇电子能谱（AES）数据记录与报告的规范要求
国家质检总局，关于表面电子能谱的标准
GB/T 30702-2014表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 实验测定的相对灵敏度因子在均匀材料定量分析中的使用指南
GB/T 29558-2013表面化学分析 俄歇电子能谱 强度标的重复性和一致性
GB/T 29556-2013表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 横向分辨率、分析面积和分析器所能检测到的样品面积的测定
GB/T 28893-2012表面化学分析.俄歇电子能谱和X射线光电子能谱.测定峰强度的方法和报告结果所需的信息
GB/T 28632-2012表面化学分析.俄歇电子能谱和X射线光电子能谱.横向分辨率测定
GB/T 25187-2010表面化学分析.俄歇电子能谱.选择仪器性能参数的表述
GB/Z 32494-2016表面化学分析俄歇电子能谱化学信息的解析
国际标准化组织，关于表面电子能谱的标准
ISO 17109-2022表面化学分析.深度剖面.用单层和多层薄膜在X射线光电子能谱、俄歇电子能谱和二次离子质谱中测定溅射速率的方法
ISO 20903-2019表面化学分析 - 俄歇电子光谱和X射线光电子能谱 - 用于确定峰值强度的方法和报告结果时所需的信息
ISO/TR 18394-2016表面化学分析. 俄歇电子能谱学. 提取化学信息
ISO/TR 18394-2016表面化学分析. 俄歇电子能谱学. 提取化学信息
ISO 18554:2016表面化学分析.电子光谱法.用X射线光电子能谱法分析的材料中X射线非预期降解的评定和校正程序
ISO 18554-2016表面化学分析. 电子光谱. 采用X射线光电子能谱分析法对材料进行分析的X射线的意外降解的识别, 评估和修正程序
ISO 19830-2015表面化学分析. 电子能谱. X射线光电子能谱峰拟合的*低报告要求
ISO 19830:2015表面化学分析 - 电子光谱 - X射线光电子能谱峰值拟合的*低报告要求
ISO 17109-2015表面化学分析. 深度剖析. 使用单层和多层薄膜测定X射线光电子能谱, 俄歇电子能谱以及二次离子质谱法溅射深度剖析中溅射率的方法
ISO 17109:2015表面化学分析 - 深度分析 - X射线光电子能谱法中的溅射速率测定方法 俄歇电子能谱和二次离子质谱法使用单层和多层薄膜的溅射深度分析
ISO 18118:2015表面化学分析.俄歇电子能谱和X射线光电子能谱.均匀材料定量分析用实验测定相对灵敏度因子的使用指南
ISO 16242-2011表面化学分析.俄歇电子能谱术(AES)的记录和报告数据
ISO 16242:2011表面化学分析——俄歇电子能谱（AES）中数据的记录和报告
ISO 20903:2011表面化学分析——俄歇电子能谱和X射线光电子能谱——报告结果时用于确定峰值强度和所需信息的方法
ISO 29081:2010表面化学分析——俄歇电子能谱；报告用于充电控制和充电校正的方法
ISO 29081-2010表面化学分析.俄歇电子能谱法.电荷控制和电荷调整用报告法
ISO 18516:2006表面化学分析——俄歇电子能谱和X射线光电子能谱——横向分辨率的测定
ISO 20903:2006表面化学分析.俄歇电子能谱和X射线光电子能谱.报告结果时确定峰值强度和所需信息的方法
ISO 24236:2005表面化学分析——俄歇电子能谱；强度标度的重复性和恒常性
ISO/TR 19319-2003表面化学分析.俄歇电子能谱和X射线光电子能谱.分析员对横向分辨率、分析区域和样品区域的目视检测
ISO/TR 19319:2003表面化学分析.俄歇电子能谱和X射线光电子能谱.用分析仪观察横向分辨率 分析面积和样品面积的测定
英国标准学会，关于表面电子能谱的标准
BS ISO 18554-2016表面化学分析. 电子光谱. 采用X射线光电子能谱分析法对材料进行分析的X射线的意外降解的识别, 评估和修正程序
BS ISO 19830-2015表面化学分析. 电子能谱. X射线光电子能谱峰拟合的*低报告要求
BS ISO 17109-2015表面化学分析. 深度剖析. 使用单层和多层薄膜测定X射线光电子能谱, 俄歇电子能谱以及二次离子质谱法溅射深度剖析中溅射率的方法
BS ISO 17109-2015表面化学分析. 深度剖析. 使用单层和多层薄膜测定X射线光电子能谱, 俄歇电子能谱以及二次离子质谱法溅射深度剖析中溅射率的方法
BS ISO 16242-2011表面化学分析.俄歇电子能谱术的记录和报告数据(AEC)
BS ISO 16242-2011表面化学分析.俄歇电子能谱术的记录和报告数据(AEC)
BS ISO 20903-2011表面化学分析.俄歇电子能谱和X-射线光电光谱学.测定峰强度的方法和报告结果要求的信息
BS ISO 20903-2011表面化学分析.俄歇电子能谱和X-射线光电光谱学.测定峰强度的方法和报告结果要求的信息
BS ISO 29081-2010表面化学分析.俄歇电子能谱法.电荷控制和电荷调整用报告法
，关于表面电子能谱的标准
KS D ISO 19319-2005(2020)表面化学分析－俄歇电子能谱和X射线光电子能谱－分析仪横向分辨率、分析面积和样品面积的测定
KS D ISO 15471-2005(2020)表面化学分析－俄歇电子能谱学－选定仪器性能参数的描述
KS D ISO 18118-2005(2020)表面化学分析俄歇电子能谱和X射线光电子能谱均匀材料定量分析用实验测定的相对灵敏度因子的使用指南
法国标准化协会，关于表面电子能谱的标准
NF X21-072-2012表面化学分析.俄歇电子能谱术(AES)的记录和报告数据
NF X21-058-2006表面化学分析.俄歇电子能谱学和X射线光电子光谱法.测定峰强度使用的方法和报告结果时需要的信息
日本工业标准调查会，关于表面电子能谱的标准
JIS K0167-2011表面化学分析.俄歇电子光谱和X射线光电子能谱学.匀质材料定量分析用实验室测定相对敏感因子的使用指南
韩国标准，关于表面电子能谱的标准
KS D ISO 19319-2005表面化学分析.俄歇电子能谱和X射线光电子能谱.分析员对横向分辨率、分析区域和样品区域的目视检测
KS D ISO 19319-2005表面化学分析.俄歇电子能谱和X射线光电子能谱.分析员对横向分辨率、分析区域和样品区域的目视检测
澳大利亚标准协会，关于表面电子能谱的标准
AS ISO 19319-2006表面化学分析．Augur电子能谱法和X射线光电子光谱法．分析员对横向分辨率；分析区域和样品区域的目视检测
AS ISO 18118-2006表面化学分析．俄歇电子能谱法和X射线光电子光谱法．均质材料定量分析中实验测定的相对灵敏系数使用指南
检测流程步骤
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