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计算机X射线摄影系统(CR)性能专用项目检测标准:WS 520-2017

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计算机X射线摄影系统(CR)性能专用项目第三方检测报告如何办理?检测项目及标准方法是什么?实验室可依据WS 520-2017低对比度细节检测检测标准规范中的试验方法,对计算机X射线摄影系统(CR)性能专用项目低对比度细节检测检测等项目进行准确测试。

检测对象

计算机X射线摄影系统(CR)性能专用项目

检测项目

低对比度细节检测检测

检测标准

WS 520-2017低对比度细节检测检测

相关标准

我们也可根据您的需求设计检测方案,如果您对计算机X射线摄影系统(CR)性能专用项目检测有严格要求,不妨考虑选择我们。

检测流程步骤

检测流程步骤

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