本文主要列举了关于数字集成电路的相关检测标准，检测标准仅供参考，如果您想了解自己的样品需要哪些检测标准，可以咨询我们。

GB/T 17574-1998：半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路

JJG 1015-2006：通用数字集成电路测试系统检定规程

GB/T 35004-2018：数字集成电路 输入/输出电气接口模型规范

GB/T 17572-1998：半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 第四篇 CMOS数字集成电路4000B和4000UB系列族规范

GB/T 17574.20-2006：半导体器件 集成电路 第2-20部分:数字集成电路 低压集成电路族规范

GB/T 9424-1998：半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 第五篇 CMOS数字集成电路4000B和4000UB系列空白详细规范

GB/T 5965-2000：半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 第一篇 双极型单片数字集成电路门电路(不包括自由逻辑阵列) 空白详细规范

JJG (电子) 31009-2007：数字集成电路参数传递标准器组检定规程

JJF 1160-2006：中小规模数字集成电路测试设备校准规范

JJG (电子) 04035-1989：GR-1732M型数字集成电路测试系统(试行)

GB/T 17023-1997：半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 第二篇 HCMOS数字集成电路54/74HC、54/74HCT、54/74HCU系列族规范

JJG (船舶) 22-1998：SID大规模数字集成电路测试系统检定规程

GB/T 17024-1997：半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 第三篇 HCMOS数字集成电路54/74HC、54/74HCT、54/74HCU系列空白详细规范

GB/T 17574.10-2003：半导体器件 集成电路 第2-10部分:数字集成电路集成电路动态读/写存储器空白详细规范

GB/T 17574.11-2006：半导体器件 集成电路 第2-11部分:数字集成电路 单电源集成电路电可擦可编程只读存储器 空白详细规范

GB/T 17574.9-2006：半导体器件 集成电路 第2-9部分:数字集成电路 紫外光擦除电可编程MOS只读存储器空白详细规范

GB/T 12842-1991：膜集成电路和混和膜集成电路术语

GB/T 8976-1996：膜集成电路和混合膜集成电路总规范

GB/T 9178-1988：集成电路术语

GB/T 15138-1994：膜集成电路和混合集成电路外形尺寸

QJ 2875-1997：半导体集成电路CMOS数字门阵列详细规范

GB/T 42839-2023：半导体集成电路 模拟数字（AD）转换器

SJ 20954-2006：集成电路锁定试验

QJ 1995A-1998：集成电路验收规范

QJ 2775-1995：集成电路包装规范

GB/T 17940-2000：半导体器件 集成电路 第３部分：模拟集成电路

GB/T 11498-2018：半导体器件 集成电路 第21部分:膜集成电路和混合膜集成电路分规范(采用鉴定批准程序)

GB/T 16465-1996：膜集成电路和混合膜集成电路分规范(采用能力批准程序)

GB/T 40577-2021：集成电路制造设备术语

SJ/T 11740-2019：集成电路自动塑封系统

检测流程步骤

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