本文主要列举了关于半导体器件分立器件和集成电路的相关检测标准，检测标准仅供参考，如果您想了解自己的样品需要哪些检测标准，可以咨询我们。

GB/T 17573-1998：半导体器件 分立器件和集成电路 第1部分:总则

GB/T 4589.1-2006：半导体器件 第10部分:分立器件和集成电路总规范

GB/T 15651-1995：半导体器件 分立器件和集成电路 第5部分:光电子器件

GB/T 2900.66-2004：电工术语 半导体器件和集成电路

GB/T 4023-2015：半导体器件 分立器件和集成电路 第2部分：整流二极管

SJ 20758-1999：半导体集成电路CMOS门阵列器件规范

GB/T 12750-2006：半导体器件 集成电路 第11部分:半导体集成电路分规范(不包括混合电路)

GB/T 17940-2000：半导体器件 集成电路 第３部分：模拟集成电路

GB/T 15651.3-2003：半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件 测试方法

GB/T 17574-1998：半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路

GB/T 4587-1994：半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管

GB/T 20515-2006：半导体器件 集成电路 第5部分:半定制集成电路

GB/T 16464-1996：半导体器件 集成电路 第1部分:总则

GB/T 12560-1999：半导体器件 分立器件分规范

GB/T 19403.1-2003：半导体器件 集成电路 第11部分:第1篇:半导体集成电路 内部目检(不包括混合电路)

GB/T 15651.2-2003：半导体分立器件和集成电路 第5-2部分:光电子器件 基本额定值和特性

GB/T 11498-2018：半导体器件 集成电路 第21部分:膜集成电路和混合膜集成电路分规范(采用鉴定批准程序)

GB/T 17574.20-2006：半导体器件 集成电路 第2-20部分:数字集成电路 低压集成电路族规范

QJ 1511A-1998：半导体分立器件验收规范

GB/T 7581-1987：半导体分立器件外形尺寸

GB/T 11499-2001：半导体分立器件文字符号

SJ/T 10149-1991(2009)：电子元器件图形库 半导体分立器件图形

GB/T 20516-2006：半导体器件 分立器件 第4部分:微波器件

GB/T 249-2017：半导体分立器件型号命名方法

QJ 787-1983：半导体分立器件筛选技术条件

GB/T 13062-2018：半导体器件 集成电路 第21-1部分:膜集成电路和混合膜集成电路空白详细规范(采用鉴定批准程序)

GB/T 43035-2023：半导体器件 集成电路 第20部分：膜集成电路和混合膜集成电路总规范 第一篇：内部目检要求

GB/T 17574.10-2003：半导体器件 集成电路 第2-10部分:数字集成电路集成电路动态读/写存储器空白详细规范

QJ 10007-2008：宇航用半导体分立器件通用规范

GB/T 43366-2023：宇航用半导体分立器件通用规范

检测流程步骤

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