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表面安装和外引线同向引出晶体管、二极管1003检测检验测试标准依据

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本文主要列举了关于表面安装和外引线同向引出晶体管、二极管1003的相关检测标准,检测标准仅供参考,如果您想了解自己的样品需要哪些检测标准,可以咨询我们。

SJ/T 2214-2015:半导体光电二极管和光电晶体管测试方法

SJ/T 2214-2015(2017):半导体光电二极管和光电晶体管测试方法

JY 182-1984:真空二极管

GB/T 6588-2000:半导体器件 分立器件 第3部分:信号(包括开关)和调整二极管 第1篇 信号二极管、开关二极管和可控雪崩二极管空白详细规范

WJ 2100-2004:硅光电二极管、硅雪崩光电二极管测试方法

SJ/T 11624-2016:发光二极管(LED)显示屏用发光二极管规范

GB/T 21039.1-2007:半导体器件 分立器件 第4-1部分:微波二极管和晶体管 微波场效应晶体管空白详细规范

SJ/T 11624-2016(2017):发光二极管(LED)显示屏用发光二极管规范

GB/T 6589-2002:半导体器件 分立器件 第3-2部分:信号(包括开关)和调整二极管电压调整二极管和电压基准二极管(不包括温度补偿精密基准二极管)空白详细规范

QJ 1907-1990:PIN二极管筛选规范

CNS 15497-2011:发光二极管投光灯具

JB/T 7624-2013(2017):整流二极管测试方法

JB/T 7624-2013:整流二极管测试方法

GB/T 35846-2018:发光二极管照明用玻璃管

YD/T 834-1996(2017):分布反馈激光二极管检测方法

YD/T 835-1996:雪崩光电二极管检测方法

YD/T 835-1996(2017):雪崩光电二极管检测方法

YD/T 834-1996(2015):分布反馈激光二极管检测方法

YD/T 834-1996:分布反馈激光二极管检测方法

SJ/T 2749-2016(2017):半导体激光二极管测试方法

QJ 2362-1992:阶跃恢复二极管筛选规范

GB/T 16894-1997:大于100A,环境和管壳额定的整流二极管(包括雪崩整流二极管)空白详细规范

YD/T 835-1996(2015):雪崩光电二极管检测方法

SJ/T 2749-2016:半导体激光二极管测试方法

SJ/T 11767-2020:二极管低频噪声参数测试方法

GB/T 15649-1995:半导体激光二极管空白详细规范

CJ/T 361-2011:水景用发光二极管(LED)灯

SJ/T 11394-2009:半导体发光二极管测试方法

YD/T 701-1993(2017):半导体激光二极管组件测试方法

SJ/T 2216-2015:硅光电二极管技术规范

检测流程步骤

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