本文主要列举了关于密封半导体集成电路1101的相关检测标准，检测标准仅供参考，如果您想了解自己的样品需要哪些检测标准，可以咨询我们。

GB/T 14113-1993：半导体集成电路封装术语

GB/T 42838-2023：半导体集成电路 霍尔电路测试方法

GB/T 12750-2006：半导体器件 集成电路 第11部分:半导体集成电路分规范(不包括混合电路)

QJ 786-1983：半导体集成电路筛选技术条件

GB/T 7092-2021：半导体集成电路外形尺寸

GB/T 3430-1989：半导体集成电路型号命名方法

GB/T 2900.66-2004：电工术语 半导体器件和集成电路

GB/T 17940-2000：半导体器件 集成电路 第３部分：模拟集成电路

QJ 10006-2008：宇航用半导体集成电路通用规范

GB/T 42837-2023：微波半导体集成电路 放大器

GB/T 14028-2018：半导体集成电路 模拟开关测试方法

GB/T 42836-2023：微波半导体集成电路 混频器

GB/T 42835-2023：半导体集成电路 片上系统（SoC）

GB/T 19403.1-2003：半导体器件 集成电路 第11部分:第1篇:半导体集成电路 内部目检(不包括混合电路)

GB/T 42970-2023：半导体集成电路 视频编解码电路测试方法

GB/T 17574-1998：半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路

SJ/T 11702-2018：半导体集成电路 串行外设接口测试方法

GB/T 20515-2006：半导体器件 集成电路 第5部分:半定制集成电路

SJ/T 10805-2018：半导体集成电路 电压比较器测试方法

SJ/T 11773-2021：半导体集成电路冲压型引线框架

SJ/T 10335-1993：半导体集成电路电视机电路系列和品种

GB/T 38345-2019：宇航用半导体集成电路通用设计要求

GB/T 42975-2023：半导体集成电路 驱动器测试方法

SJ 20758-1999：半导体集成电路CMOS门阵列器件规范

GB/T 4377-2018：半导体集成电路 电压调整器测试方法

GB/T 17574.20-2006：半导体器件 集成电路 第2-20部分:数字集成电路 低压集成电路族规范

GB/T 35007-2018：半导体集成电路 低电压差分信号电路测试方法

QJ 2875-1997：半导体集成电路CMOS数字门阵列详细规范

GB/T 42839-2023：半导体集成电路 模拟数字（AD）转换器

QJ 3092-1999：半导体集成电路HCT与门、与非门详细规范

检测流程步骤

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