本文主要列举了关于半导体分立器件寿命评价试验的相关检测标准，检测标准仅供参考，如果您想了解自己的样品需要哪些检测标准，可以咨询我们。

GB/T 12560-1999：半导体器件 分立器件分规范

QJ 1511A-1998：半导体分立器件验收规范

GB/T 7581-1987：半导体分立器件外形尺寸

GB/T 11499-2001：半导体分立器件文字符号

GB/T 249-2017：半导体分立器件型号命名方法

QJ 787-1983：半导体分立器件筛选技术条件

QJ 10007-2008：宇航用半导体分立器件通用规范

SJ/T 10149-1991(2009)：电子元器件图形库 半导体分立器件图形

GB/T 43366-2023：宇航用半导体分立器件通用规范

SJ/T 11874-2022：电动汽车用半导体分立器件应力试验程序

GB/T 20516-2006：半导体器件 分立器件 第4部分:微波器件

SJ 20756-1999：半导体分立器件结构相似性应用指南

QJ 2502-1993：抗辐射加固半导体分立器件通用技术条件

GB/T 15651.4-2017：半导体器件 分立器件 第5-4部分:光电子器件 半导体激光器

SJ/Z 21580-2018：半导体分立器件统计过程控制技术实施指南

SJ/Z 21580-2020：半导体分立器件统计过程控制技术实施指南

JJG (电子) 310002-2006：半导体分立器件直流参数测试仪检定规程

JJG (电子) 310003-2006：半导体分立器件电容参数测试仪检定规程

GB/T 17573-1998：半导体器件 分立器件和集成电路 第1部分:总则

GB/T 4589.1-2006：半导体器件 第10部分:分立器件和集成电路总规范

GB/T 4587-2023：半导体器件 分立器件 第7部分：双极型晶体管

SJ/T 11820-2022：半导体分立器件直流参数测试设备技术要求和测量方法

GB/T 15651-1995：半导体器件 分立器件和集成电路 第5部分:光电子器件

GB/T 4586-1994：半导体器件 分立器件 第8部分:场效应晶体管

GB/T 29332-2012：半导体器件 分立器件 第9部分:绝缘栅双极晶体管(IGBT)

SJ 20310-1993：半导体分立器件3DD101型功率晶体管详细规范

SJ 20066-1992：半导体分立器件 2CL3型硅高压整流堆详细规范

SJ 50033/30-1994：半导体分立器件 3DD155型功率晶体管详细规范

SJ 50033/37-1994：半导体分立器件 3DD164型功率晶体管详细规范

SJ 20072-1992：半导体分立器件 GH24、GH25和GH26型半导体光耦合器详细规范

检测流程步骤

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