本文主要列举了关于集成电路筛选的相关检测标准，检测标准仅供参考，如果您想了解自己的样品需要哪些检测标准，可以咨询我们。

QJ 786-1983：半导体集成电路筛选技术条件

GB/T 12842-1991：膜集成电路和混和膜集成电路术语

GB/T 8976-1996：膜集成电路和混合膜集成电路总规范

GB/T 15138-1994：膜集成电路和混合集成电路外形尺寸

GB/T 9178-1988：集成电路术语

SJ 20954-2006：集成电路锁定试验

QJ 1995A-1998：集成电路验收规范

QJ 2775-1995：集成电路包装规范

GB/T 17574.20-2006：半导体器件 集成电路 第2-20部分:数字集成电路 低压集成电路族规范

GB/T 17940-2000：半导体器件 集成电路 第３部分：模拟集成电路

GB/T 11498-2018：半导体器件 集成电路 第21部分:膜集成电路和混合膜集成电路分规范(采用鉴定批准程序)

GB/T 16465-1996：膜集成电路和混合膜集成电路分规范(采用能力批准程序)

GB/T 40577-2021：集成电路制造设备术语

SJ/T 11740-2019：集成电路自动塑封系统

GB/T 17574-1998：半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路

JC/T 2372-2016：集成电路用石英舟

GB/T 16466-1996：膜集成电路和混合膜集成电路空白详细规范(采用能力批准程序)

GB/T 20515-2006：半导体器件 集成电路 第5部分:半定制集成电路

JC/T 2372-2016(2017)：集成电路用石英舟

GB/T 42838-2023：半导体集成电路 霍尔电路测试方法

GB/T 12750-2006：半导体器件 集成电路 第11部分:半导体集成电路分规范(不包括混合电路)

WJ 2061-1991：引信集成电路通用技术条件

SJ/Z 11361-2006(2017)：集成电路IP核保护大纲

SJ/Z 11361-2006：集成电路IP核保护大纲

SJ/Z 11353-2006(2017)：集成电路IP核转让规范

SJ/T 11506-2015(2017)：集成电路用铝腐蚀液

GB/T 13062-2018：半导体器件 集成电路 第21-1部分:膜集成电路和混合膜集成电路空白详细规范(采用鉴定批准程序)

GB/T 17574.10-2003：半导体器件 集成电路 第2-10部分:数字集成电路集成电路动态读/写存储器空白详细规范

GB/T 14113-1993：半导体集成电路封装术语

QB/T 4052-2010：石英表用集成电路

检测流程步骤

温馨提示：以上内容仅供参考使用，更多检测需求请咨询客服。