SJ 50033/126-1997《半导体分立器件2DK13型硅肖特基开关整流二极管详细规范》基本信息

标准号：

SJ 50033/126-1997

中文名称：

《半导体分立器件2DK13型硅肖特基开关整流二极管详细规范》

发布日期：

1997-06-17

实施日期：

1997-10-01

发布部门：

电子工业部

提出单位：

电子工业部

归口单位：

中国电子技术标准化研究所

起草单位：

济南半导体元件实验室

起草人：

朱志光、贾惠蓉

中国标准分类号：

L5961

SJ 50033/126-1997《半导体分立器件2DK13型硅肖特基开关整流二极管详细规范》介绍

SJ 50033/126-1997《半导体分立器件2DK13型硅肖特基开关整流二极管详细规范》是由电子工业部发布的一项标准，于1997年6月17日正式发布，并于同年10月1日正式实施。

一、产品概述

2DK13型硅肖特基开关整流二极管是一种半导体器件，主要用于整流、开关等电路中。其具有体积小、重量轻、功耗低、响应速度快等优点，在电子设备中得到了广泛的应用。

二、性能指标

1、较大整流电流：标准规定，2DK13型硅肖特基开关整流二极管的较大整流电流应不小于30A。

2、反向击穿电压：标准规定，2DK13型硅肖特基开关整流二极管的反向击穿电压应不小于1000V。

3、正向压降：标准规定，在较大整流电流下，2DK13型硅肖特基开关整流二极管的正向压降应不大于1.1V。

4、反向恢复时间：标准规定，2DK13型硅肖特基开关整流二极管的反向恢复时间应不大于50ns。

三、测试方法

1、外观检查：对产品的外观进行目视检查，确保产品表面无明显缺陷。

2、电性能测试：对产品的电性能指标进行测试，包括较大整流电流、反向击穿电压、正向压降、反向恢复时间等。

3、温度特性测试：对产品在不同温度下的性能进行测试，以评估其温度稳定性。

4、耐久性测试：对产品进行长时间的工作测试，以评估其耐久性。

四、质量要求

1、产品应符合标准规定的性能指标要求。

2、产品的外观应无明显缺陷，符合标准规定的要求。

3、产品在规定的测试条件下，应表现出良好的稳定性和耐久性。

4、产品的生产过程应符合国家有关质量管理体系的要求。

检测流程步骤

温馨提示：以上内容仅供参考使用，更多检测需求请咨询客服。