SJ 20176-1992《半导体分立器件 ３ＤＧ３４３９型和３ＤＧ３４４０型ＮＰＮ硅小功率高反压晶体管详细规范》基本信息

标准号：

SJ 20176-1992

中文名称：

《半导体分立器件 ３ＤＧ３４３９型和３ＤＧ３４４０型ＮＰＮ硅小功率高反压晶体管详细规范》

发布日期：

1992-11-19

实施日期：

1993-05-01

发布部门：

中国电子工业总公司

提出单位：

中国电子工业总公司科技质量局

归口单位：

中国电子技术标准化研究所

起草单位：

中国电子技术标准化研究所和国营八二三一厂

起草人：

王长福、吴鑫奎、龚云

中国标准分类号：

D01技术管理

SJ 20176-1992《半导体分立器件 ３ＤＧ３４３９型和３ＤＧ３４４０型ＮＰＮ硅小功率高反压晶体管详细规范》介绍

中国电子工业总公司于1992年发布了《半导体分立器件 3DG3439型和3DG3440型NPN硅小功率高反压晶体管详细规范》（以下简称"SJ 20176-1992标准"），并于1993年5月1日起正式实施。

一、技术要求

1、外观质量

晶体管的外观应无裂纹、无明显变形，表面应清洁、无油污、无锈蚀，引脚应无折断、无弯曲。

2、电性能参数

晶体管的电性能参数应满足标准规定的要求，包括集电极-发射极击穿电压、集电极电流、电流放大系数等。

3、温度特性

晶体管在规定的温度范围内应具有良好的温度特性，包括温度系数、温度稳定性等。

4、可靠性

晶体管应具有良好的可靠性，包括长时间工作稳定性、抗静电能力等。

二、试验方法

1、外观检查

对晶体管的外观进行目视检查，以确保其满足外观质量要求。

2、电性能测试

对晶体管的电性能参数进行测试，以评估其性能是否符合标准要求。

3、温度特性测试

对晶体管在不同温度下的性能进行测试，以评估其温度特性。

4、可靠性测试

对晶体管进行长时间工作、抗静电等可靠性测试，以评估其可靠性。

三、检验规则

1、检验分类

晶体管的检验分为型式检验和出厂检验。

2、抽样规则

对晶体管进行抽样检验，以评估其整体质量。

3、合格判定

根据检验结果，对晶体管进行合格判定。

四、标志、包装、运输和储存

1、标志

晶体管应有清晰的型号、规格、生产日期等标志。

2、包装

晶体管的包装应符合标准要求，以保护晶体管在运输过程中不受损坏。

3、运输

晶体管在运输过程中应避免剧烈震动、高温等不利因素。

4、储存

晶体管应储存在干燥、通风、无腐蚀性气体的环境中。

检测流程步骤

温馨提示：以上内容仅供参考使用，更多检测需求请咨询客服。