SJ 50033/109-1996《半导体光电子器件GJ9031T、GJ9032T和GJ9034T型 半导体激光二极管详细规范》基本信息

标准号：

SJ 50033/109-1996

中文名称：

《半导体光电子器件GJ9031T、GJ9032T和GJ9034T型 半导体激光二极管详细规范》

发布日期：

1996-08-30

实施日期：

1997-01-01

发布部门：

电子工业部

提出单位：

电子工业部

归口单位：

中国电子技术标准化研究所

起草单位：

电子工业部第四十四研究所

起草人：

王雨苏、胡思强

中国标准分类号：

L5980

SJ 50033/109-1996《半导体光电子器件GJ9031T、GJ9032T和GJ9034T型 半导体激光二极管详细规范》介绍

《半导体光电子器件GJ9031T、GJ9032T和GJ9034T型 半导体激光二极管详细规范》(SJ 50033/109-1996)是由电子工业部于1996年8月30日发布的一项行业标准，自1997年1月1日起正式实施。

一、技术要求

1、光电参数：包括较大输出功率、阈值电流、工作电压等，以确保器件在不同工作条件下的性能稳定性和可靠性。

2、光谱特性：规定了激光二极管的中心波长、光谱宽度等参数，以满足不同应用场景对光谱特性的要求。

3、温度特性：明确了在不同温度条件下，激光二极管的光电参数和光谱特性的变化范围，以适应不同环境的应用需求。

4、可靠性：对器件的寿命、老化特性等进行了规定，以确保长期稳定运行。

二、测试方法

1、光电参数测试：采用特定的测试设备和方法，对器件的输出功率、阈值电流、工作电压等参数进行测量。

2、光谱特性测试：通过光谱分析仪器，对激光二极管的中心波长、光谱宽度等参数进行测试。

3、温度特性测试：在不同温度条件下，对器件的光电参数和光谱特性进行测试，以评估其温度稳定性。

4、可靠性测试：通过加速老化试验等方法，评估器件的寿命和可靠性。

三、检验规则

1、检验分类：明确了出厂检验、型式检验和周期检验等不同的检验类型。

2、抽样规则：规定了抽样数量、抽样方法等，以保证检验结果的代表性和准确性。

3、判定规则：明确了合格与不合格的判定标准，以及不合格品的处理方法。

四、标志、包装、运输和储存

1、标志：要求在器件上标注型号、规格、生产日期等信息，以便于识别和追溯。

2、包装：规定了包装材料、包装方式等，以保护器件在运输过程中不受损坏。

3、运输：提出了运输过程中的注意事项，如避免强烈振动、高温等不利条件。

4、储存：规定了储存条件和期限，以保证器件在储存期间的性能稳定。

检测流程步骤

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