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电子元器件（破坏性物理分析）检测哪些项目？检测周期多久？报告有效期多久呢？我们严格按照标准进行检测和评估，确保检测结果的准确性和可靠性。同时，我们还根据客户的需求，提供个性化的检测方案和报告，帮助厂家更好地了解产品质量和性能。我们只做真实检测。

检测项目（参考）：

内部目检、制样镜检、外部目检、密封、引出端强度、物理尺寸、粒子碰撞噪声检测、芯片剪切强度、超声显微镜检查、键合强度、扫描电子显微镜（SEM）检查、声学扫描显微镜检查、玻璃钝化层完整性检查、X射线检查、内部气体成份分析、扫描电子显微镜检查、玻璃钝化层的完整性检查、芯片粘接的超声检测

检测标准一览：

1、GJB 360A-1996 《电子及电气元件试验方法》 方法112

2、SJ 20527A-2003 微波组件通用规范 4.6.3

3、GJB360A-1996 X射线检查

4、SJ 20527-1995 微波组件总规范 4.8.1

5、GJB 5914-2006 各种质量等级**半导体器件破坏性物理分析方法 GJB 5914-2006

6、GJB 128A-1997 《半导体分立器件试验方法》 GJB 128A-1997

7、SJ20527A-2003 外部目检

8、SJ 20527A-2003 微波组件通用规范 SJ 20527A-2003

9、GJB360B-2009 X射线检查

10、SJ 20527-1995 微波组件总规范 SJ 20527-1995

11、GJB 548B-2005 《微电子器件试验方法和程序》 方法2010.1、方法2014

12、GJB548B-2005 扫描电子显微镜检查

13、GJB-4027A-2006 **电子元器件破坏性物理分析

14、GJB 8481-2015 微波组件通用规范 4.11.3

15、GJB 4152A-2014 多层瓷介电容器及其类似元器件剖面制备及检验方法

16、SJ 20642-1997 半导体光电模块总规范 4.10.11

17、GJB915A-1997 外部目检

18、GJB 548A-1996 《微电子器件试验方法和程序》 GJB 548A-1996

19、GJB 915A-1997 纤维光学试验方法 方法401

20、GJB 915A-1997 纤维光学试验方法 GJB 915A-1997

检测报告有效期

一般检测报告上会标注实验室收到样品的时间、出具报告的时间。检测报告上不会标注有效期。常规来说只要测试没更新，测试不变检测报告一直有效。如果是用于过电商平台，一般他们只认可一年内的。所以还要看平台或买家的要求。

如果您对产品品质和安全性能有严格要求，不妨考虑选择我们的检测服务。让我们助您一臂之力，共创美好未来。

检测周期

一般3-10个工作日（特殊样品除外），具体请咨询客服。

检测费用

因测试项目及实验复杂程度不同，具体请联系客服确定后进行报价。

检测流程步骤

第三方检测机构平台

百检网汇集众多CNAS、CMA、CAL等资质的检测机构遍布全国，检测领域包括食品、环境、建材、电子、化工、汽车、家居、纺织品、农产品等，具体请咨询在线客服。

温馨提示：以上内容为部分列举，仅供参考使用，更多检测需求请咨询客服。