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检测项目
电流容量、工作频率、电流放大系数、耗散功率、频率特性、集电极*大电流、*大反向电压、反向电流等。
检测标准
GB/T4586-1994半导体器件分立器件第8部分:场效应晶体管
GB/T4587-1994半导体分立器件和集成电路第7部分:双极型晶体管
GB/T6217-1998半导体器件分立器件第7部分:双极型晶体管第一篇高低频放大环境额定的双极型晶体管空白详细规范
GB/T6218-1996开关用双极型晶体管空白详细规范
GB/T6219-1998半导体器件分立器件第8部分:场效应晶体管第一篇1GHz、5W以下的单栅场效应晶体管空白详细规范
GB/T6352-1998半导体器件分立器件第6部分:闸流晶体管第一篇100A以下环境或管壳额定反向阻断三极闸流晶体管空白详细规范
GB/T6590-1998半导体器件分立器件第6部分:闸流晶体管第二篇100A以下环境或管壳额定的双向三极闸流晶体管空白详细规范
GB/T7576-1998半导体器件分立器件第7部分:双极型晶体管第一篇高频放大环境额定的双极型晶体管空白详细规范
GB/T7577-1996低频放大管壳额定的双极型晶体管空白详细规范
GB/T9531.4-1988C类瓷件技术条件
GB/T10067.34-2015电热装置基本技术条件第34部分：晶体管式高频感应加热装置
GB/T12300-1990功率晶体管安全工作区测试方法
GB/T12565-1990半导体器件光电子器件分规范(可供认证用)
GB/T12965-2018硅单晶切割片和研磨片
GB/T15449-1995管壳额定开关用场效应晶体管空白详细规范
GB/T15651.2-2003半导体分立器件和集成电路第5-2部分：光电子器件基本额定值和特性
GB/T15651-1995半导体器件分立器件和集成电路第5部分：光电子器件
GB/T16468-1996静电感应晶体管系列型谱
GB/T20516-2006半导体器件分立器件第4部分：微波器件
GB/T21039.1-2007半导体器件分立器件第4-1部分：微波二极管和晶体管微波场效应晶体管空白详细规范
GB/T29332-2012半导体器件分立器件第9部分：绝缘栅双极晶体管(IGBT)
GB/T31958-2015薄膜晶体管液晶显示器用基板玻璃
GB/T34118-2017高压直流系统用电压源换流器术语
GB/T35011-2018微波电路压控振荡器测试方法
GB/T35702.2-2017高压直流系统用电压源换流器阀损耗第2部分：模块化多电平换流器
GB/T37403-2019薄膜晶体管液晶显示器(TFT-LCD)用四甲基氢氧化铵显影液
GB/T39299-2020液晶面板制造稀释废液回收再利用方法
GB51136-2015薄膜晶体管液晶显示器工厂设计规范(附条文说明)
GB51432-2020薄膜晶体管显示器件玻璃基板生产工厂设计标准(附条文说明)
检测流程步骤
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