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检测项目及执行标准一览表
| 序号 | 检测标准 | 检测对象 | 检测项目 |
|---|---|---|---|
| 1 | 半导体器件 光电子器件分规范 GB/T 12565-1990 3.4.1 | 半导体分立器件发光二*管 | 不工作器件 |
| 2 | 半导体器件 分立器件 第3部分：信号(包括开关)和调整二*管 GB/T 6571-1995 第Ⅳ章 第1节 2 | 半导体分立器件发光二*管 | 反向电流 |
| 3 | 半导体分立器件和集成电路 第5-3部分：光电子器件测试方法 GB/T 15651.3-2003 3.1 | 半导体分立器件发光二*管 | 发光强度 |
| 4 | 半导体器件 机械和气候试验方法 GB/T 4937-1995 第Ⅱ篇 2.1 | 半导体分立器件发光二*管 | 可焊性 |
| 5 | 半导体器件 第10部分：分立器件和集成电路总规范 GB/T 4589.1-2006IEC 60747-10:1991 4.3.1.1 | 半导体分立器件发光二*管 | 外部目检 |
| 6 | 半导体器件 光电子器件分规范 GB/T 12565-1990 附录B | 半导体分立器件发光二*管 | 尺寸 |
| 7 | 半导体分立器件和集成电路 第5-3部分：光电子器件测试方法 GB/T 15651.3-2003 3.3 | 半导体分立器件发光二*管 | 峰值发射波长 |
| 8 | 半导体器件 机械和气候试验方法 GB/T 4937-1995 第Ⅱ篇 1.1，1.2 | 半导体分立器件发光二*管 | 引出端强度 |
| 9 | 半导体器件 机械和气候试验方法 GB/T 4937-1995 第Ⅱ篇 3,4 | 半导体分立器件发光二*管 | 机械冲击或振动 |
| 10 | 半导体器件 分立器件 第3部分：信号(包括开关)和调整二*管 GB/T 6571-1995 第Ⅳ章 第1节 1 | 半导体分立器件发光二*管 | 正向电压 |
检测时间周期
一般3-10天出报告，有的项目1天出报告，具体根据半导体分立器件发光二*管检测项目而定。
检测报告有效期
一般半导体分立器件发光二*管检测报告上会标注实验室收到样品的时间、出具报告的时间。检测报告上不会标注有效期。
检测流程步骤
1、电话沟通、确认需求；
2、推荐方案、确认报价；
3、邮寄样品、安排检测；
4、进度跟踪、结果反馈；
5、出具报告、售后服务；
6、如需加急、优先处理；
温馨提示：以上关于《半导体分立器件发光二*管检测》内容仅为部分列举供参考使用，百检网汇集众多CNAS、CMA、CAL等资质的检测机构遍布全国，更多检测需求请咨询客服。
