- N +

半导体紫外光谱边检测

检测报告图片

检测报告图片

半导体紫外光谱边检测报告如何办理?检测项目及标准有哪些?百检第三方检测机构,严格按照半导体紫外光谱边检测相关标准进行测试和评估。做检测,找百检。我们只做真实检测。

涉及半导体 紫外光谱 边的标准有10条。

国际标准分类中,半导体 紫外光谱 边涉及到光学和光学测量、无机化学、半导体分立器件、辐射测量、光电子学、激光设备。

在中国标准分类中,半导体 紫外光谱 边涉及到无机化工原料综合、无机盐、半导体发光器件。

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会,关于半导体 紫外光谱 边的标准

GB/T 37131-2018纳米技术半导体纳米粉体材料紫外-可见漫反射光谱的测试方法

国家质检总局,关于半导体 紫外光谱 边的标准

GB/T 29856-2013半导体性单壁碳纳米管的近红外光致发光光谱表征方法

国际电工委员会,关于半导体 紫外光谱 边的标准

IEC 60747-5-15-2022半导体器件第5-15部分:光电子器件发光二极管基于电反射光谱法的平带电压试验方法

IEC 60747-5-15:2022半导体器件第5-15部分:光电子器件发光二极管基于电反射光谱法的平带电压试验方法

行业标准-电子,关于半导体 紫外光谱 边的标准

SJ/T 2658.12-2015半导体红外发射二极管测量方法 第12部分:峰值发射波长和光谱辐射带宽

SJ 2355.7-1983半导体发光器件测试方法.发光峰值波长和光谱半宽度的测试方法

SJ 2658.12-1986半导体红外发光二极管测试方法.峰值发射波长和光谱半宽度的测试方法

,关于半导体 紫外光谱 边的标准

GOST 29115-1991基于半导体检波器的γ辐射检波的光谱测定块和装置.基本参数的测定方法

GOST 19834.3-1976半导体辐射器.辐射能量相对光谱分布和辐射光谱宽度测量方法

GOST 20766-1975电离辐射半导体光谱探测器.型式和基本参数

检测报告有效期

一般半导体紫外光谱边检测报告上会标注实验室收到样品的时间、出具报告的时间,不会标注有效期。

检测费用价格

需要根据检测项目、样品数量及检测标准而定,请联系我们确定后报价。

检测流程步骤

检测流程步骤

温馨提示:以上内容为部分列举,仅供参考使用。更多检测问题请咨询客服。

返回列表
上一篇:钯离子分析法检测
下一篇:半导体测试检测