报告类型： 【无触点的集成电路卡——接近式卡及机具交变磁场检测】电子报告、纸质报告(中文报告、英文报告、中英文报告)
报告资质： CMA；CNAS
检测周期： 3-10个工作日（特殊样品除外）
服务地区： 全国，实验室就近分配
检测用途： 电商平台入驻；商超卖场入驻；产品质量改进；产品认证；出口通关检验等
样品要求： 样品支持快递取送/上门采样，数量及规格等视检测项而定
检测报告图片
无触点的集成电路卡——接近式卡及机具检测项目标准及流程是什么？实验室可依据IEC 14443-1:2000识别卡 无触点集成电路卡 接近式卡 第1部分：物理特性检测标准规范中的试验方法，对无触点的集成电路卡——接近式卡及机具交变磁场检测等项目进行准确测试。
检测对象
无触点的集成电路卡——接近式卡及机具
检测项目
交变磁场检测
检测标准
IEC 14443-1:2000识别卡 无触点集成电路卡 接近式卡 第1部分：物理特性检测
相关标准
《ISO/IEC14443-1：2016》识别卡-无触点集成电路卡-接近式卡 第1部分:物理特性 ISO/IEC14443-1：2016
《ISO/IEC 14443-1: 2000》识别卡 无触点集成电路卡 接近式卡 第1部分：物理特性 ISO/IEC 14443-1: 2000
《ISO/IEC 14443-1: 2000》识别卡 无触点集成电路卡 接近式卡 第1部分：物理特性 ISO/IEC 14443-1: 2000 4.3.5
《ISO/IEC14443-1:2016/4.4》识别卡 无触点集成电路卡 接近式卡 第1部分：物理特性 ISO/IEC14443-1:2016/4.4
《ISO/IEC14443-1:2000/4.3.4》识别卡 无触点集成电路卡 接近式卡 第1部分：物理特性 ISO/IEC14443-1:2000/4.3.4
《ISO/IEC14443-1:2000/4.3.3》识别卡 无触点集成电路卡 接近式卡 第1部分：物理特性 ISO/IEC14443-1:2000/4.3.3
《ISO/IEC14443-1:2000/4.3.1》识别卡 无触点集成电路卡 接近式卡 第1部分：物理特性 ISO/IEC14443-1:2000/4.3.1
《ISO/IEC14443-1:2000/4.3.8》识别卡 无触点集成电路卡 接近式卡 第1部分：物理特性 ISO/IEC14443-1:2000/4.3.8
《ISO/IEC14443-1:2000/4.3.7》识别卡 无触点集成电路卡 接近式卡 第1部分：物理特性 ISO/IEC14443-1:2000/4.3.7
《ISO/IEC14443-1:2000/4.2》识别卡 无触点集成电路卡 接近式卡 第1部分：物理特性 ISO/IEC14443-1:2000/4.2
百检也可根据您的需求设计检测方案，如果您对无触点的集成电路卡——接近式卡及机具检测有严格要求，不妨考虑选择我们的检测服务。更多信息请咨询客服。
检测报告有效期
一般无触点的集成电路卡——接近式卡及机具交变磁场检测报告上会标注实验室收到样品的时间、出具报告的时间，不会标注有效期。
检测费用价格
需要根据检测项目、样品数量及检测标准而定，请联系我们确定后报价。
检测流程步骤
检测机构平台
百检汇集众多CNAS、CMA、CAL等资质的检测机构遍布全国，检测领域全行业覆盖，为您提供无触点的集成电路卡——接近式卡及机具交变磁场检测服务。具体请咨询在线客服。
