- N +

绝缘栅双极型晶体管栅极-发射极阈值电压检测

报告类型: 【绝缘栅双极型晶体管栅极-发射极阈值电压检测】电子报告、纸质报告(中文报告、英文报告、中英文报告)

报告资质: CMA;CNAS

检测周期: 3-10个工作日(特殊样品除外)

服务地区: 全国,实验室就近分配

检测用途: 电商平台入驻;商超卖场入驻;产品质量改进;产品认证;出口通关检验等

样品要求: 样品支持快递取送/上门采样,数量及规格等视检测项而定

概览

检测报告图片

检测报告图片

绝缘栅双极型晶体管检测项目标准及流程是什么?实验室可依据GBT GB/T 29332-2012半导体器件 分立器件 第9部分:绝缘栅双极晶体管检测标准规范中的试验方法,对绝缘栅双极型晶体管栅极-发射极阈值电压检测等项目进行准确测试。

检测对象

绝缘栅双极型晶体管

检测项目

栅极-发射极阈值电压检测

检测标准

GBT GB/T 29332-2012半导体器件 分立器件 第9部分:绝缘栅双极晶体管检测

相关标准

《GB/T4023-2015》半导体器件:分立器件和集成电路第2部分:整流二极管 GB/T4023-2015 7.1.2

《GB/T4023-2015》半导体器件:分立器件和集成电路第2部分:整流二极管 GB/T4023-2015 7.1.4

《GB/T4023-2015》半导体器件:分立器件和集成电路第2部分:整流二极管 GB/T4023-2015 7.1.3

《GB/T6571-1995》半导体器件 分立器件第3部分:信号(包括开关)和调整二极管 GB/T6571-1995 第IV章/第1节/2

《GB/T6571-1995》半导体器件 分立器件第3部分:信号(包括开关)和调整二极管 GB/T6571-1995 第IV章/第1节/1

《GB/T6571-1995》半导体器件 分立器件第3部分:信号(包括开关)和调整二极管 GB/T6571-1995 第IV章/第2节/1

《IEC 60747-3-2013》半导体器件分立器件 第3部分:分立器件:信号,开关和整流二极管 IEC 60747-3-2013 6.2.2

百检也可根据您的需求设计检测方案,如果您对绝缘栅双极型晶体管检测有严格要求,不妨考虑选择我们。更多信息请咨询客服。

检测报告有效期

一般绝缘栅双极型晶体管栅极-发射极阈值电压检测报告上会标注实验室收到样品的时间、出具报告的时间,不会标注有效期。

检测费用价格

需要根据检测项目、样品数量及检测标准而定,请联系我们确定后报价。

检测流程步骤

检测流程步骤

检测机构平台

百检汇集众多CNAS、CMA、CAL等资质的检测机构遍布全国,检测领域全行业覆盖,为您提供绝缘栅双极型晶体管栅极-发射极阈值电压检测服务。具体请咨询在线客服。

返回列表
上一篇:绝缘栅双极型晶体管集电极截止电流检测
下一篇:返回列表