报告类型： 【绝缘栅双极型晶体管结到壳热阻/结到壳瞬态热阻抗检测】电子报告、纸质报告(中文报告、英文报告、中英文报告)
报告资质： CMA；CNAS
检测周期： 3-10个工作日（特殊样品除外）
服务地区： 全国，实验室就近分配
检测用途： 电商平台入驻；商超卖场入驻；产品质量改进；产品认证；出口通关检验等
样品要求： 样品支持快递取送/上门采样，数量及规格等视检测项而定
检测报告图片
绝缘栅双极型晶体管检测项目标准及流程是什么？实验室可依据GBT GB/T 29332-2012半导体器件 分立器件 第9部分：绝缘栅双极晶体管检测标准规范中的试验方法，对绝缘栅双极型晶体管结到壳热阻/结到壳瞬态热阻抗检测等项目进行准确测试。
检测对象
绝缘栅双极型晶体管
检测项目
结到壳热阻/结到壳瞬态热阻抗检测
检测标准
GBT GB/T 29332-2012半导体器件 分立器件 第9部分：绝缘栅双极晶体管检测
相关标准
《GB/T4023-2015》半导体器件:分立器件和集成电路第2部分:整流二极管 GB/T4023-2015 7.1.2
《GB/T4023-2015》半导体器件:分立器件和集成电路第2部分:整流二极管 GB/T4023-2015 7.1.4
《GB/T4023-2015》半导体器件:分立器件和集成电路第2部分:整流二极管 GB/T4023-2015 7.1.3
《GB/T6571-1995》半导体器件 分立器件第3部分：信号（包括开关）和调整二极管 GB/T6571-1995 第IV章/第1节/2
《GB/T6571-1995》半导体器件 分立器件第3部分：信号（包括开关）和调整二极管 GB/T6571-1995 第IV章/第1节/1
《GB/T6571-1995》半导体器件 分立器件第3部分：信号（包括开关）和调整二极管 GB/T6571-1995 第IV章/第2节/1
《IEC 60747-3-2013》半导体器件分立器件 第3部分：分立器件：信号，开关和整流二极管 IEC 60747-3-2013 6.2.2
百检也可根据您的需求设计检测方案，如果您对绝缘栅双极型晶体管检测有严格要求，不妨考虑选择我们。更多信息请咨询客服。
检测报告有效期
一般绝缘栅双极型晶体管结到壳热阻/结到壳瞬态热阻抗检测报告上会标注实验室收到样品的时间、出具报告的时间，不会标注有效期。
检测费用价格
需要根据检测项目、样品数量及检测标准而定，请联系我们确定后报价。
检测流程步骤
检测机构平台
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