电子电器检测

  • 工频高压试验装置介电强度检测

    工频高压试验装置介电强度检测

    资质：CNAS/CMA
    报告：中文/英文
    周期：3-10个工作日
    简介：工频高压试验装置检测项目标准及流程是什么？实验室可依据DL/T 848.2-2018高压试验装置通用技术条件第2部分：工频高压试验装置检测标准规范中的试验方法，对工频高压试验装置介电...
  • 工频高压试验装置装置整体工频耐压耐压试验检测

    工频高压试验装置装置整体工频耐压耐压试验检测

    资质：CNAS/CMA
    报告：中文/英文
    周期：3-10个工作日
    简介：工频高压试验装置检测项目标准及流程是什么？实验室可依据DL/T 848.2-2018高压试验装置通用技术条件第2部分：工频高压试验装置检测标准规范中的试验方法，对工频高压试验装置装置...
  • 互感器综合特性测试仪电压示值误差检测

    互感器综合特性测试仪电压示值误差检测

    资质：CNAS/CMA
    报告：中文/英文
    周期：3-10个工作日
    简介：互感器综合特性测试仪检测项目标准及流程是什么？实验室可依据DL/T 1221-2013互感器综合特性测试仪通用技术条件检测标准规范中的试验方法，对互感器综合特性测试仪电压示值误差...
  • 互感器综合特性测试仪电流示值误差检测

    互感器综合特性测试仪电流示值误差检测

    资质：CNAS/CMA
    报告：中文/英文
    周期：3-10个工作日
    简介：互感器综合特性测试仪检测项目标准及流程是什么？实验室可依据DL/T 1221-2013互感器综合特性测试仪通用技术条件检测标准规范中的试验方法，对互感器综合特性测试仪电流示值误差...
  • 互感器综合特性测试仪变比、极性检测

    互感器综合特性测试仪变比、极性检测

    资质：CNAS/CMA
    报告：中文/英文
    周期：3-10个工作日
    简介：互感器综合特性测试仪检测项目标准及流程是什么？实验室可依据DL/T 1221-2013互感器综合特性测试仪通用技术条件检测标准规范中的试验方法，对互感器综合特性测试仪变比、极性检...
  • 互感器综合特性测试仪二次绕组电阻和二次回路电阻测量误差检测

    互感器综合特性测试仪二次绕组电阻和二次回路电阻测量误差检测

    资质：CNAS/CMA
    报告：中文/英文
    周期：3-10个工作日
    简介：互感器综合特性测试仪检测项目标准及流程是什么？实验室可依据DL/T 1221-2013互感器综合特性测试仪通用技术条件检测标准规范中的试验方法，对互感器综合特性测试仪二次绕组电阻...
  • 互感器综合特性测试仪介电强度检测

    互感器综合特性测试仪介电强度检测

    资质：CNAS/CMA
    报告：中文/英文
    周期：3-10个工作日
    简介：互感器综合特性测试仪检测项目标准及流程是什么？实验室可依据DL/T 1221-2013互感器综合特性测试仪通用技术条件检测标准规范中的试验方法，对互感器综合特性测试仪介电强度检测...
  • 绝缘栅双极型晶体管集电极-发射极饱和电压检测

    绝缘栅双极型晶体管集电极-发射极饱和电压检测

    资质：CNAS/CMA
    报告：中文/英文
    周期：3-10个工作日
    简介：绝缘栅双极型晶体管检测项目标准及流程是什么？实验室可依据GBT GB/T 29332-2012半导体器件 分立器件 第9部分：绝缘栅双极晶体管检测标准规范中的试验方法，对绝缘栅双极型晶体管...
  • 绝缘栅双极型晶体管栅极-发射极阈值电压检测

    绝缘栅双极型晶体管栅极-发射极阈值电压检测

    资质：CNAS/CMA
    报告：中文/英文
    周期：3-10个工作日
    简介：绝缘栅双极型晶体管检测项目标准及流程是什么？实验室可依据GBT GB/T 29332-2012半导体器件 分立器件 第9部分：绝缘栅双极晶体管检测标准规范中的试验方法，对绝缘栅双极型晶体管...
  • 绝缘栅双极型晶体管集电极截止电流检测

    绝缘栅双极型晶体管集电极截止电流检测

    资质：CNAS/CMA
    报告：中文/英文
    周期：3-10个工作日
    简介：绝缘栅双极型晶体管检测项目标准及流程是什么？实验室可依据GBT GB/T 29332-2012半导体器件 分立器件 第9部分：绝缘栅双极晶体管检测标准规范中的试验方法，对绝缘栅双极型晶体管...
  • 绝缘栅双极型晶体管栅极漏电流检测

    绝缘栅双极型晶体管栅极漏电流检测

    资质：CNAS/CMA
    报告：中文/英文
    周期：3-10个工作日
    简介：绝缘栅双极型晶体管检测项目标准及流程是什么？实验室可依据GBT GB/T 29332-2012半导体器件 分立器件 第9部分：绝缘栅双极晶体管检测标准规范中的试验方法，对绝缘栅双极型晶体管...
  • 绝缘栅双极型晶体管结到壳热阻/结到壳瞬态热阻抗检测

    绝缘栅双极型晶体管结到壳热阻/结到壳瞬态热阻抗检测

    资质：CNAS/CMA
    报告：中文/英文
    周期：3-10个工作日
    简介：绝缘栅双极型晶体管检测项目标准及流程是什么？实验室可依据GBT GB/T 29332-2012半导体器件 分立器件 第9部分：绝缘栅双极晶体管检测标准规范中的试验方法，对绝缘栅双极型晶体管...
  • 变压器空、负载损耗测试仪负载损耗检测

    变压器空、负载损耗测试仪负载损耗检测

    资质：CNAS/CMA
    报告：中文/英文
    周期：3-10个工作日
    简介：变压器空、负载损耗测试仪检测项目标准及流程是什么？实验室可依据DL/T 1256-2013变压器空、负载损耗测试仪通用技术条件检测标准规范中的试验方法，对变压器空、负载损耗测试仪...
  • 相对介损及电容测试仪介电强度检测

    相对介损及电容测试仪介电强度检测

    资质：CNAS/CMA
    报告：中文/英文
    周期：3-10个工作日
    简介：相对介损及电容测试仪检测项目标准及流程是什么？实验室可依据DL/T 1516-2016相对介损及电容测试仪通用技术条件检测标准规范中的试验方法，对相对介损及电容测试仪介电强度检测...
  • 有载分接开关测试仪介电强度检测

    有载分接开关测试仪介电强度检测

    资质：CNAS/CMA
    报告：中文/英文
    周期：3-10个工作日
    简介：有载分接开关测试仪检测项目标准及流程是什么？实验室可依据DL/T 846.8-2017高电压测试设备通用技术条件第8部分：有载分接开关测试仪检测标准规范中的试验方法，对有载分接开关测...
  • 半导体集成电路（模/数转换器和数/模转换器）电源电流检测

    半导体集成电路（模/数转换器和数/模转换器）电源电流检测

    资质：CNAS/CMA
    报告：中文/英文
    周期：3-10个工作日
    简介：半导体集成电路（模/数转换器和数/模转换器）检测项目标准及流程是什么？实验室可依据QJ 3044-98半导体集成电路 模/数转换器和数/模转换器测试方法检测标准规范中的试验方法，对半...
  • 半导体集成电路（时基电路）复位电压检测

    半导体集成电路（时基电路）复位电压检测

    资质：CNAS/CMA
    报告：中文/英文
    周期：3-10个工作日
    简介：半导体集成电路（时基电路）检测项目标准及流程是什么？实验室可依据GB/T 14030-92半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理检测标准规范中的试验方法，对半导体集成电路（时基电路）...
  • 半导体集成电路（时基电路）复位电流检测

    半导体集成电路（时基电路）复位电流检测

    资质：CNAS/CMA
    报告：中文/英文
    周期：3-10个工作日
    简介：半导体集成电路（时基电路）检测项目标准及流程是什么？实验室可依据GB/T 14030-92半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理检测标准规范中的试验方法，对半导体集成电路（时基电路）...
  • 半导体集成电路（时基电路）触发电压检测

    半导体集成电路（时基电路）触发电压检测

    资质：CNAS/CMA
    报告：中文/英文
    周期：3-10个工作日
    简介：半导体集成电路（时基电路）检测项目标准及流程是什么？实验室可依据GB/T 14030-92半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理检测标准规范中的试验方法，对半导体集成电路（时基电路）...
  • 半导体集成电路（时基电路）触发电流检测

    半导体集成电路（时基电路）触发电流检测

    资质：CNAS/CMA
    报告：中文/英文
    周期：3-10个工作日
    简介：半导体集成电路（时基电路）检测项目标准及流程是什么？实验室可依据GB/T 14030-92半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理检测标准规范中的试验方法，对半导体集成电路（时基电路）...
微信二维码
繁