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检测执行标准信息一览：
标准简介：本标准规定的测量方法适用于非本征半导体单晶材料的霍尔系数、载流子霍尔迁移率、电阻率和载流子浓度。 本标准规定的测量方法仅在有限的范围内对锗、硅、砷化镓单晶材料进行了实验室测量，但该方法也可适用于其他半导体单晶材料，一般情况下，适用于室温电阻率高达104Ω·cm
标准号：GB/T 4326-2006
标准名称：非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法
英文名称：Extrinsic semiconductor single crystals measurement of Hall mobility and Hall coefficient
标准类型：国家标准
标准性质：推荐性
标准状态：现行
发布日期：2006-07-18
实施日期：2006-11-01
中国标准分类号（CCS）：冶金>>金属理化性能试验方法>>H21金属物理性能试验方法
国际标准分类号（ICS）：冶金>>金属材料试验>>77.040.01金属材料试验综合
替代以下标准：替代GB/T 4326-1984
起草单位：北京有色金属研究总院
归口单位：全国有色金属标准化技术委员会
发布单位：国家质量监督检验检疫.
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