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GB/T5252-2020锗单晶位错密度的测试方法

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检测执行标准信息一览:

标准简介:本标准规定了锗单晶位错密度的测试方法。 本标准适用于、和面锗单晶位错密度的测试,测试范围为0 cm-2~100 000 cm-2。

标准号:GB/T 5252-2020

标准名称:锗单晶位错密度的测试方法

英文名称:Test method for dislocation density of monocrystal germanium

标准类型:国家标准

标准性质:推荐性

标准状态:现行

发布日期:2020-06-02

实施日期:2021-04-01

中国标准分类号(CCS):冶金>>金属理化性能试验方法>>H21金属物理性能试验方法

国际标准分类号(ICS):冶金>>77.040金属材料试验

替代以下标准:替代GB/T 5252-2006

起草单位:有研光电新材料有限责任公司、北京国晶辉红外光学科技有限公司、国合通用测试评价认证股份公司、云南临沧鑫圆锗业股份有限公司、中国电子科技集团公司第四十六研究所、广东先导稀材股份有限公司、中锗科技有限公司、义乌力迈新材料有限公司

归口单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC 203)、全

发布单位:国家市场监督管理总局.

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