检测报告图片模板：
检测执行标准信息一览：
标准简介：本标准规定了使用原子力显微镜(AFM)测量表面粗糙度的方法。本标准适用于测量溅射成膜方法生成的、平均粗糙度Ra 小于100nm 的薄膜。其他非溅射薄膜的表面粗糙度的测量可以参考此方法。
标准号：GB/T 31227-2014
标准名称：原子力显微镜测量溅射薄膜表面粗糙度的方法
英文名称：Test method for the surface roughness by atomic force microscope for sputtered thin films
标准类型：国家标准
标准性质：推荐性
标准状态：现行
发布日期：2014-09-30
实施日期：2015-04-15
中国标准分类号（CCS）：机械>>机械综合>>J04基础标准与通用方法
国际标准分类号（ICS）：计量学和测量、物理现象>>长度和角度测量>>17.040.20表面特征
起草单位：上海交通大学、纳米技术及应用国家工程研究中心
归口单位：全国纳米技术标准化技术委员会(SAC/TC279)
发布单位：国家质量监督检验检疫.
标准文档查询及下载
免责声明：(更多标准请先联系客服查询！)
1.本站标准库为非营利性质，仅供各行人士相互交流、学习使用，使用标准请以正式出版的版本为准。
2.全部标准资料均来源于网络，不保证文件的准确性和完整性，如因使用文件造成损失，本站不承担任何责任。
3.全部标准资料均来源于网络，本站不承担任何技术及版权问题，如有相关内容侵权，请联系我们删除。
