- N +

GB/T24468-2009半导体设备可靠性、可用性和维修性(RAM)的定义和测量规范

检测报告图片模板:

检测报告图片

检测执行标准信息一览:

标准号:GB/T 24468-2009

标准名称:半导体设备可靠性、可用性和维修性(RAM)的定义和测量规范

英文名称:Specification for definition and measurement of semiconductor equipment reliability availability and maintainability(RAM)

标准类型:国家标准

标准性质:推荐性

标准状态:现行

发布日期:2009-10-15

实施日期:2009-12-01

中国标准分类号(CCS):电子元器件与信息技术>>电子测量与仪器>>L85电子测量与仪器综合

国际标准分类号(ICS):计量学和测量、物理现象>>长度和角度测量>>17.040.30测量仪器仪表

起草单位:中国电子技术标准化研究所

归口单位:469-203 全国半导体材料和设备标准化技术委员会

发布单位:国家质量监督检验检疫.

标准文档查询及下载

免责声明:(更多标准请先联系客服查询!)

1.本站标准库为非营利性质,仅供各行人士相互交流、学习使用,使用标准请以正式出版的版本为准。

2.全部标准资料均来源于网络,不保证文件的准确性和完整性,如因使用文件造成损失,本站不承担任何责任。

3.全部标准资料均来源于网络,本站不承担任何技术及版权问题,如有相关内容侵权,请联系我们删除。

返回列表
上一篇:GB/T24306-2009红松种仁
下一篇:GB/T24455-2022擦手纸