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检测执行标准信息一览：
标准简介：本标准规定了薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片的结构尺寸、技术要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输、贮存。本标准适用于薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片。
标准号：GB/T 14620-1993
标准名称：薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片
英文名称：Alumina ceramic substrates for thin film integrated circuits
标准类型：国家标准
标准性质：推荐性
标准状态：作废
发布日期：1993-09-03
实施日期：1993-01-02
中国标准分类号（CCS）：>>>>L32
国际标准分类号（ICS）：电子学>>31.200集成电路、微电子学
替代以下标准：被GB/T 14620-2013代替
起草单位：国营七九九厂
归口单位：信息产业部（电子）
发布单位：国家技术监督局
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