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检测执行标准信息一览：
标准简介：本部分等同采用IEC 60747-4-1：2000《半导体器件 分立器件 第4-1部分：微波二极管和晶体管 微波场效应晶体管空白详细规范》。本空白详细规范是半导体器件的一系列空白详细规范之一，具体内容包括：机械说明；简要说明；质量评定类别；极限值；电特性；标志；订货资料；试验条件和简要要求等。
标准号：GB/T 21039.1-2007
标准名称：半导体器件 分立器件 第4-1部分：微波二极管和晶体管 微波场效应晶体管空白详细规范
英文名称：Semiconductor devices—Discrete devices—Part 4-1:microwave diodes and transistors—Microwave field effect transistors—Blank detail specification
标准类型：国家标准
标准性质：推荐性
标准状态：现行
发布日期：2007-06-29
实施日期：2007-11-01
中国标准分类号（CCS）：电子元器件与信息技术>>半导体分立器件>>L41半导体二极管
国际标准分类号（ICS）：电子学>>半导体器件>>31.080.30三极管
起草单位：中国电子技术标准化研究所
归口单位：全国半导体分立器件标准化分技术委员会
发布单位：国家质量监督检验检疫.
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