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检测执行标准信息一览：
标准简介：本标准规定了半导体集成电路数字锁相环电参数测试方法的基本原理。
标准号：GB/T 14032-1992
标准名称：半导体集成电路数字锁相环测试方法的基本原理
英文名称：General principles of measuring methods of digital phase-locked loop for semiconductor integrated circuits
标准类型：国家标准
标准性质：推荐性
标准状态：现行
发布日期：1992-01-02
实施日期：1993-08-01
中国标准分类号（CCS）：电子元器件与信息技术>>微电路>>L55微电路综合
国际标准分类号（ICS）：电子学>>31.200集成电路、微电子学
起草单位：上海件五厂
归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会
发布单位：国家技术监督局
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