检测报告图片模板：
检测执行标准信息一览：
标准简介：本标准规定了MOS和结型场效应半导体集成电路模拟开关电参数测试的基本原理。模拟开关与CMOS电路相同的静态参数和动态参数测试可参照GB3834《半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》。
标准号：GB/T 14028-1992
标准名称：半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理
英文名称：General principles of measuring methods of analogue switches for semiconductor integrated circuits
标准类型：国家标准
标准性质：推荐性
标准状态：作废
发布日期：1992-01-02
实施日期：1993-08-01
中国标准分类号（CCS）：电子元器件与信息技术>>微电路>>L55微电路综合
国际标准分类号（ICS）：电子学>>31.200集成电路、微电子学
替代以下标准：被GB/T 14028-2018代替
起草单位：上海件五厂
归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会
发布单位：国家技术监督局
标准文档查询及下载
免责声明：(更多标准请先联系客服查询！)
1.本站标准库为非营利性质，仅供各行人士相互交流、学习使用，使用标准请以正式出版的版本为准。
2.全部标准资料均来源于网络，不保证文件的准确性和完整性，如因使用文件造成损失，本站不承担任何责任。
3.全部标准资料均来源于网络，本站不承担任何技术及版权问题，如有相关内容侵权，请联系我们删除。
