标准简介：GB/T17626的本部分给出了利用各种 TEM 波导进行电子和电气设备发射和抗扰度试验的方法。TEM 波导有开放式(例如,带状线和电磁脉冲(EMP)模拟器)和封闭式(例如,TEM 室),还可以进一步分为单端口、双端口和多端口波导。TEM 波导的适用频率范围取决于具体的试验需求和 TEM 波导的具体类型。本部分的目的是给出:———TEM 波导的性能,包括典型的频率范围和对 EUT 尺寸的限制;———用于电磁兼容(EMC)试验的 TEM 波导的确认方法;———EUT(即 EUT 壳体和连接电缆)的定义;———在 TEM 波导中进行辐射发射试验的试验布置、步骤和要求;———在 TEM 波导中进行辐射抗扰度试验的试验布置、步骤和要求。注:本部分规定的试验方法用于测量所关心设备的电磁辐射抗扰度和辐射发射。电磁辐射的模拟和测量结果对于定量确定较终安装使用状态下的电磁效应是不够准确的,规定试验方法的主要目的是保证定性分析电磁效应使用的不同试验设备所得试验结果的重复性。本部分的目的不是规定适用于任意特定产品或系统的试验方法,而是为所有感兴趣的产品委员会提供通用的基础性参考。对于辐射发射试验,产品委员会应参考国际无线电干扰特别委员会(CISPR)标准1)选择发射限值和试验方法。对于辐射抗扰度试验,由产品委员会负责对其管辖范围内的设备选择合适的试验方法和抗扰度限值。本部分描述的试验方法独立于 GB/T17626.32)。

标准号：GB/T 17626.20-2014

标准名称：电磁兼容 试验和测量技术 横电磁波（TEM）波导中的发射和抗扰度试验

英文名称：Electromagnetic compatibility—Testing and measurement techniques—Emission and immunity testing in transverse electromagnetic(TEM) waveguide

标准类型：国家标准

标准性质：推荐性

标准状态：现行

发布日期：2014-12-22

实施日期：2015-06-01

中国标准分类号（CCS）：电子元器件与信息技术>>电子元器件与信息技术综合>>L06电磁兼容

国际标准分类号（ICS）：33.100.10;33.100.20

起草单位：东南大学、上海出入境检验检疫局、中国电力科学研究院、上海市计量测试技术研究院、中国电子技术标准化研究院、中国计量科学研究院

归口单位：全国电磁兼容标准化技术委员会(SAC/TC246)

发布单位：国家质量监督检验检疫.