检测报告图片模板：
检测执行标准信息一览：
标准简介：本标准用于标称圆形晶片边缘平直部分长度小于等于65mm 的电学材料。本标准仅对硅片精度进行确认,预期精度不因材料而改变。本标准适用于仲裁测量,当规定的限度要求高于用尺子和肉眼检测能够获得的精度时,本标准也可用于常规验收测量。
标准号：GB/T 13387-2009
标准名称：硅及其它电子材料晶片参考面长度测量方法
英文名称：Test method for measuring flat length wafers of silicon and other electronic materials
标准类型：国家标准
标准性质：推荐性
标准状态：现行
发布日期：2009-10-30
实施日期：2010-06-01
中国标准分类号（CCS）：冶金>>半金属与半导体材料>>H80半金属与半导体材料综合
国际标准分类号（ICS）：电气工程>>29.045半导体材料
替代以下标准：替代GB/T 13387-1992
起草单位：有研半导体材料股份有限公司
归口单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会
发布单位：国家质量监督检验检疫.
标准文档查询及下载
免责声明：(更多标准请先联系客服查询！)
1.本站标准库为非营利性质，仅供各行人士相互交流、学习使用，使用标准请以正式出版的版本为准。
2.全部标准资料均来源于网络，不保证文件的准确性和完整性，如因使用文件造成损失，本站不承担任何责任。
3.全部标准资料均来源于网络，本站不承担任何技术及版权问题，如有相关内容侵权，请联系我们删除。
