检测报告图片模板：
检测执行标准信息一览：
标准简介：本部分为第10部分，等同采用IEC60748-2-10:1994(QC790107)《半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路第10篇：集成电路动态读/写存储器空白详细规范》（英文版）。
标准号：GB/T 17574.10-2003
标准名称：半导体器件 集成电路 第2-10部分：数字集成电路 集成电路动态读/写存储器 空白详细规范
英文名称：Semiconductor devices—Integrated circuits—Part 2-10:Digital integrated circuits—Blank detail specification of integrated circuit dynamic read/write memories
标准类型：国家标准
标准性质：推荐性
标准状态：现行
发布日期：2003-01-01
实施日期：2004-08-01
中国标准分类号（CCS）：电子元器件与信息技术>>微电路>>L56半导体集成电路
国际标准分类号（ICS）：电子学>>31.220电子电信设备用机电零部件
起草单位：中国电子技术标准化研究所（CESI）
归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会
发布单位：国家质量监督检验检疫.
标准文档查询及下载
免责声明：(更多标准请先联系客服查询！)
1.本站标准库为非营利性质，仅供各行人士相互交流、学习使用，使用标准请以正式出版的版本为准。
2.全部标准资料均来源于网络，不保证文件的准确性和完整性，如因使用文件造成损失，本站不承担任何责任。
3.全部标准资料均来源于网络，本站不承担任何技术及版权问题，如有相关内容侵权，请联系我们删除。
