检测报告图片模板：
检测执行标准信息一览：
标准简介：本空白详细规范是半导体器件的一系列空白详细规范之一，本规范等同采用国际电工委员会（IEC）标准IEC 60748-2-9：1994《半导体器件 集成电路 第2-9部分：数字集成电路 紫外光擦除电可编程MOS只读存储器空白详细规范》。
标准号：GB/T 17574.9-2006
标准名称：半导体器件 集成电路 第2-9部分：数字集成电路紫外光擦除电可编程MOS只读存储器空白详细规范
英文名称：Semiconductor devices - Integrated circuits - Part 2-9: Digital integrated circuits - Blank detail specification for MOS ultraviolet light erasable electrically programmable read-only memories
标准类型：国家标准
标准性质：推荐性
标准状态：现行
发布日期：2006-12-05
实施日期：2007-05-01
中国标准分类号（CCS）：电子元器件与信息技术>>微电路>>L56半导体集成电路
国际标准分类号（ICS）：电子学>>31.200集成电路、微电子学
起草单位：中国电子科技集团公司第四十七研究所
归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会
发布单位：国家质量监督检验检疫.
标准文档查询及下载
免责声明：(更多标准请先联系客服查询！)
1.本站标准库为非营利性质，仅供各行人士相互交流、学习使用，使用标准请以正式出版的版本为准。
2.全部标准资料均来源于网络，不保证文件的准确性和完整性，如因使用文件造成损失，本站不承担任何责任。
3.全部标准资料均来源于网络，本站不承担任何技术及版权问题，如有相关内容侵权，请联系我们删除。
