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GB/T17444-2013红外焦平面阵列参数测试方法

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检测执行标准信息一览:

标准简介:本标准对红外焦平面阵列特性参数及相关量进行了定义。本标准给出了红外焦平面阵列特性参数的测试方法及测试条件。本标准适用于线列和面阵红外焦平面阵列。

标准号:GB/T 17444-2013

标准名称:红外焦平面阵列参数测试方法

英文名称:Measuring methods for parameters of infrared focal plane arrays

标准类型:国家标准

标准性质:推荐性

标准状态:现行

发布日期:2013-11-12

实施日期:2014-04-15

中国标准分类号(CCS):电子元器件与信息技术>>光电子器件>>L52红外器件

国际标准分类号(ICS):电子学>>31.260光电子学、激光设备

替代以下标准:替代GB/T 17444-1998

起草单位:中国科学院上海技术物理研究所

归口单位:工业和信息化部电子工业标准化研究所

发布单位:国家质量监督检验检疫.

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