标准简介：本标准参考了IEC 60333：1993《核仪器 半导体带电粒子探测器 测试程序》。本标准代替GB/T 13178-1991《金硅面垒型探测器》。本标准规定了部分耗尽金硅面垒型探测器（简称探测器）的产品分类、技术要求、测试方法、检验规则等。本标准适用于部分耗尽金硅面垒型探测器（不包括位置灵敏探测器）。锂漂移金硅面垒型探测器也可参照执行。本标准保留GB/T 13178-1991的大部分内容，对其的主要修改如下：——增加前言；——引用新的规范性文件；——产品的外形及结构尺寸仅保留A型，删去原标准的B型和C型；——部分耗尽金硅面垒型探测器的分类仅保留较小耗尽层深度为300μm一类，而主要性能增加“允许较大噪声”。

标准号：GB/T 13178-2008

标准名称：金硅面垒型探测器

英文名称：Partially depleted gold silicon surface barrier detectors

标准类型：国家标准

标准性质：推荐性

标准状态：现行

发布日期：2008-07-02

实施日期：2009-04-01

中国标准分类号（CCS）：能源、核技术>>核仪器与核探测器>>F88核探测器

国际标准分类号（ICS）：能源和热传导工程>>27.120核能工程

替代以下标准：替代GB/T 13178-1991

起草单位：中核（北京）核仪器厂

归口单位：全国核仪器仪表标准化技术委员会

发布单位：国家质量监督检验检疫.